Fiera
Progettare per l'analisi. Verificare con sicurezza.
Unitevi a noi al Simposio internazionale sui test e l'analisi dei guasti (ISTFA) 2026 a San Antonio, dove ingegneri ed esperti di analisi dei guasti si riuniscono per approfondire gli ultimi progressi nel campo dei test, del debug e dell'affidabilità in microelettronica.
Ispirandosi al tema di quest'anno, “Design for Analysis”, l'ISTFA riunisce ingegneri ed esperti del settore per condividere approfondimenti pratici e approcci innovativi alle sfide odierne relative alla progettazione e all'affidabilità dei semiconduttori. Scoprite tecniche pratiche per l'analisi dei guasti, la convalida dei progetti e il miglioramento dei flussi di lavoro di collaudo.
Venite a trovare Keysight allo stand n. 721
Scopri le soluzioni che consentono di velocizzare il debug, semplificare l'analisi dei guasti e convalidare i progetti in tutta sicurezza grazie a dimostrazioni dal vivo che includono:
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Momenti salienti della conferenza |
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Applicazioni dell'intelligenza artificiale nell'analisi dei guasti
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Tecniche e concetti emergenti nel campo della FA |
Modifica del circuito a fascio ionico focalizzato
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Preparazione dei campioni e smontaggio dei dispositivi |
Isolamento dei guasti a livello di die
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Isolamento dei guasti a livello di pacchetto
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Casi di studio: Processi e flussi di lavoro FA |
Preparazione dei campioni FIB
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Imballaggio e assemblaggio
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System-in-Package e dispositivi 3D
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Resa del prodotto, collaudo e diagnostica |
Analisi al microscopio e caratterizzazione dei materiali |
Dispositivi di potenza a banda larga (SiC, GaN, nuovi materiali) |
Schede e sistemi
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Elettronica affidabile
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Casi di studio: analisi dei dispositivi
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Ingegneri microelettronici, progettisti di semiconduttori, professionisti dell’analisi dei guasti, ingegneri dell’affidabilità, ingegneri di collaudo, ricercatori e chiunque sia responsabile della caratterizzazione dei dispositivi, del debug, della convalida o della qualità dei prodotti.
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