Fiera

ISTFA - 2026

October 4, 2023

Data

10:00-12:30 PT

Tempo

2 ore

Durata

Virtuale

Posizione

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Informazioni su questo evento

Progettare per l'analisi. Verificare con sicurezza. 

 

Unitevi a noi al Simposio internazionale sui test e l'analisi dei guasti (ISTFA) 2026 a San Antonio, dove ingegneri ed esperti di analisi dei guasti si riuniscono per approfondire gli ultimi progressi nel campo dei test, del debug e dell'affidabilità in microelettronica. 

 

Ispirandosi al tema di quest'anno, “Design for Analysis”, l'ISTFA riunisce ingegneri ed esperti del settore per condividere approfondimenti pratici e approcci innovativi alle sfide odierne relative alla progettazione e all'affidabilità dei semiconduttori. Scoprite tecniche pratiche per l'analisi dei guasti, la convalida dei progetti e il miglioramento dei flussi di lavoro di collaudo. 

 

Venite a trovare Keysight allo stand n. 721 

 

Scopri le soluzioni che consentono di velocizzare il debug, semplificare l'analisi dei guasti e convalidare i progetti in tutta sicurezza grazie a dimostrazioni dal vivo che includono: 

  • NUOVO oscilloscopio HD3 con funzione "Fault Hunter" per l'identificazione rapida dei guasti  
  • Oscilloscopi EXR e MXR per il debug avanzato e l'analisi dei segnali  
  • Smart Bench Essentials Plus  
  • Analizzatori di potenza in corrente continua e unità di misura e generazione (SMU) per prove di potenza di precisione e di affidabilità  

 

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Momenti salienti della conferenza

Applicazioni dell'intelligenza artificiale nell'analisi dei guasti

 

Tecniche e concetti emergenti nel campo della FA

Modifica del circuito a fascio ionico focalizzato

 

Preparazione dei campioni e smontaggio dei dispositivi

Isolamento dei guasti a livello di die

 

Isolamento dei guasti a livello di pacchetto

 

Casi di studio: Processi e flussi di lavoro FA

Preparazione dei campioni FIB

 

Imballaggio e assemblaggio

 

System-in-Package e dispositivi 3D

 

Resa del prodotto, collaudo e diagnostica

Analisi al microscopio e caratterizzazione dei materiali

Dispositivi di potenza a banda larga (SiC, GaN, nuovi materiali)

Schede e sistemi

 

Elettronica affidabile

 

Casi di studio: analisi dei dispositivi 

 

Chi dovrebbe partecipare a questo evento?


Ingegneri microelettronici, progettisti di semiconduttori, professionisti dell’analisi dei guasti, ingegneri dell’affidabilità, ingegneri di collaudo, ricercatori e chiunque sia responsabile della caratterizzazione dei dispositivi, del debug, della convalida o della qualità dei prodotti.

October 4, 2023

Data

10:00AM PT

Tempo

90

Durata

Virtuale

Posizione

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