Fiera
Progettare per l'analisi. Verificare con sicurezza.
Unisciti a Keysight all’International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA) 2026 a San Antonio, in Texas, dove ingegneri ed esperti di analisi dei guasti si riuniscono per approfondire gli ultimi progressi nel campo dei test, del debug e dell’affidabilità nel settore della microelettronica.
Ispirandosi al tema di quest’anno, “Design for Analysis”, l’ISTFA riunisce ingegneri ed esperti del settore per condividere approfondimenti pratici e approcci innovativi alle sfide odierne relative alla progettazione e all’affidabilità dei semiconduttori.
Scopri alcune tecniche pratiche per analizzare i guasti, verificare la validità dei progetti e ottimizzare i flussi di lavoro relativi ai test.
Momenti salienti della conferenza
Venite a trovare Keysight allo stand n. 721
Scopri le soluzioni che consentono di velocizzare il debug, semplificare l'analisi dei guasti e convalidare i progetti in tutta sicurezza grazie a dimostrazioni dal vivo che includono:
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Ingegneri microelettronici, progettisti di semiconduttori, professionisti dell’analisi dei guasti, ingegneri dell’affidabilità, ingegneri di collaudo, ricercatori e chiunque sia responsabile della caratterizzazione dei dispositivi, del debug, della convalida o della qualità dei prodotti.
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