Salon professionnel
Concevoir pour l'analyse. Valider en toute confiance.
Rejoignez Keysight au Symposium international sur les tests et l'analyse des défaillances (ISTFA) 2026 à San Antonio, où ingénieurs et experts en analyse des défaillances se réunissent pour découvrir les dernières avancées en matière de tests, de débogage et de fiabilité dans le domaine de la microélectronique.
Autour du thème de cette année, « Design for Analysis », l'ISTFA rassemble des ingénieurs et des experts du secteur afin de partager des connaissances pratiques et des approches innovantes pour relever les défis actuels en matière de conception et de fiabilité des semi-conducteurs.
Découvrez des techniques pratiques pour analyser les défaillances, valider les conceptions et améliorer les processus de test.
Moments forts de la conférence
Venez rendre visite à Keysight au stand n° 721
Découvrez des solutions qui permettent d'accélérer le débogage, de simplifier l'analyse des défaillances et de valider vos conceptions en toute confiance grâce à des démonstrations en direct mettant en avant :
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Ingénieurs en microélectronique, concepteurs de semi-conducteurs, spécialistes de l'analyse des défaillances, ingénieurs en fiabilité, ingénieurs d'essais, chercheurs et toute personne chargée de la caractérisation, du débogage, de la validation ou de la qualité des produits.
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