Feira de negócios

ISTFA - 2026

eventos Bancada educação internet das coisas

October 4, 2023

Data

10:00AM - 12:30 PM PT

Hora

2 horas

Duração

Virtual

Localização

Registre-se agora

Sobre este evento

Projete para a análise. Valide com confiança.

Junte-se a nós no Simpósio Internacional de Testes e Análise de Falhas (ISTFA) 2026, em San Antonio, onde engenheiros e especialistas em análise de falhas se reúnem para explorar os mais recentes avanços em testes, depuração e confiabilidade na microeletrônica.

Com foco no tema deste ano, “Design for Analysis”, a ISTFA reúne engenheiros e especialistas do setor para compartilhar insights práticos e abordagens emergentes para os desafios atuais de projeto e confiabilidade de semicondutores. Explore técnicas práticas para investigar falhas, validar projetos e aprimorar fluxos de trabalho de teste.

Visite a Keysight no estande nº 721

Descubra soluções que ajudam a acelerar a depuração, simplificar a análise de falhas e validar projetos com confiança por meio de demonstrações ao vivo que apresentam:

Novo osciloscópio HD3 com Fault Hunter para identificação rápida de falhas
Osciloscópios EXR e MXR para depuração avançada e análise de sinais
Smart Bench Essentials Plus
Analisador de potência CC e unidades de medição e geração de potência (SMUs) para testes de potência de precisão e de confiabilidade

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Destaques da conferência

Aplicações de IA na Análise de Falhas

Técnicas e conceitos emergentes na FA

Circuito de feixe de íons focado Editar

Preparação de amostras e desmontagem do dispositivo

Isolamento de falhas no nível de die

Isolamento de falhas no nível do pacote

Estudos de caso: Processo e fluxos de trabalho da FA

Preparação de amostras para FIB

Embalagem e Montagem

Sistemas em Pacote e Dispositivos 3D

Rendimento, testes e diagnóstico de produtos

Análise microscópica e caracterização de materiais

Dispositivos de potência de banda larga (SiC, GaN, novos materiais)

Placas e Sistemas

Eletrônicos de Confiança

Estudos de caso: Análise de dispositivos

Quem deve participar desse evento?

Engenheiros de microeletrônica, projetistas de semicondutores, profissionais de análise de falhas, engenheiros de confiabilidade, engenheiros de testes, pesquisadores e qualquer pessoa responsável pela caracterização, depuração, validação ou qualidade de produtos.