ISTFA - 2026

Sobre este evento

Projete para a análise. Valide com confiança. 

Junte-se à Keysight no Simpósio Internacional de Testes e Análise de Falhas (ISTFA) 2026, em San Antonio, Texas, onde engenheiros e especialistas em análise de falhas se reúnem para explorar os mais recentes avanços em testes, depuração e confiabilidade em microeletrônica. 

Com foco no tema deste ano, “Design for Analysis”, a ISTFA reúne engenheiros e especialistas do setor para compartilhar insights práticos e abordagens emergentes para os desafios atuais de projeto e confiabilidade de semicondutores. 

Explore técnicas práticas para investigar falhas, validar projetos e aprimorar os fluxos de trabalho de teste. 

Destaques da conferência 

• Análise de falhas com tecnologia de IA  
• Isolamento de falhas no nível do chip e do pacote  
• Embalagem avançada e integração heterogênea  
• Técnicas de FIB e preparação de amostras  
• Microscopia e caracterização de materiais  
• Rendimento do produto, diagnósticos e testes de confiabilidade  
• Componentes eletrônicos confiáveis e metodologias emergentes de FA 

Visite a Keysight no estande nº 721 

Descubra soluções que ajudam a acelerar a depuração, simplificar a análise de falhas e validar projetos com confiança por meio de demonstrações ao vivo que apresentam: 

• Novo osciloscópio HD3 com Fault Hunter para identificação rápida de falhas  
• Osciloscópios EXR e MXR para depuração avançada e análise de sinais  
• Smart Bench Essentials Plus  
• Analisador de potência CC e unidades de medição e geração de potência (SMUs) para testes de potência de precisão e de confiabilidade  

Agende uma demonstração. Receba um passe gratuito para a feira. 

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Agende hoje mesmo sua demonstração e venha nos visitar no estande nº 721.