ISTFA - 2026

Über diese Veranstaltung

Für die Analyse entwickeln. Sicher validieren. 

Besuchen Sie uns beim Internationalen Symposium für Testen und Fehleranalyse (ISTFA) 2026 in San Antonio, wo Ingenieure und Experten für Fehleranalyse zusammenkommen, um die neuesten Fortschritte beim Testen, Debuggen und der Zuverlässigkeit von Mikroelektronik zu erkunden. 

Unter dem diesjährigen Motto „Design für die Analyse“ bringt die ISTFA Ingenieure und Branchenexperten zusammen, um praxisnahe Erkenntnisse und neue Ansätze für die aktuellen Herausforderungen im Bereich Halbleiterdesign und -zuverlässigkeit auszutauschen. Entdecken Sie praktische Techniken zur Fehleranalyse, Designvalidierung und Optimierung von Testabläufen. 

Besuchen Sie Keysight am Stand Nr. 721 

Entdecken Sie Lösungen, die die Fehlersuche beschleunigen, die Fehleranalyse vereinfachen und Designs mit Zuversicht validieren – anhand von Live-Demonstrationen mit folgenden Inhalten: 

• NEUES HD3-Oszilloskop mit Fault Hunter zur schnellen Fehleridentifizierung  
• EXR- und MXR-Oszilloskope für fortgeschrittenes Debugging und Signalanalyse  
• Smart Bench Essentials Plus  
• Gleichstrom-Leistungsanalysatoren und Source Measure Units (SMUs) für präzise Leistungs- und Zuverlässigkeitsprüfungen  

Vereinbaren Sie eine Demo. Sie erhalten einen kostenlosen Ausstellungsausweis. 

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