ISTFA - 2026

Über diese Veranstaltung

Für die Analyse entwickeln. Sicher validieren. 

Besuchen Sie Keysight auf dem Internationalen Symposium für Testen und Fehleranalyse (ISTFA) 2026 in San Antonio, Texas, wo Ingenieure und Experten für Fehleranalyse zusammenkommen, um die neuesten Fortschritte beim Testen, Debuggen und der Zuverlässigkeit von Mikroelektronik zu erkunden. 

Unter dem diesjährigen Motto „Design für die Analyse“ bringt die ISTFA Ingenieure und Branchenexperten zusammen, um praktische Erkenntnisse und neue Ansätze für die heutigen Herausforderungen im Bereich Halbleiterdesign und Zuverlässigkeit auszutauschen. 

Entdecken Sie praktische Techniken zur Untersuchung von Fehlern, zur Validierung von Konstruktionen und zur Verbesserung von Testabläufen. 

Konferenz-Highlights 

• KI-gestützte Fehleranalyse  
• Fehlerisolierung auf Chip- und Gehäuseebene  
• Advanced Verpackung und heterogene Integration  
• FIB-Techniken und Probenvorbereitung  
• Mikroskopie und Materialcharakterisierung  
• Produktausbeute, Diagnose und Zuverlässigkeitsprüfung  
• Vertrauenswürdige Elektronik und neue FA-Methoden 

Besuchen Sie Keysight am Stand Nr. 721 

Entdecken Sie Lösungen, die die Fehlersuche beschleunigen, die Fehleranalyse vereinfachen und Designs mit Zuversicht validieren – anhand von Live-Demonstrationen mit folgenden Inhalten: 

• NEUES HD3-Oszilloskop mit Fault Hunter zur schnellen Fehleridentifizierung  
• EXR- und MXR-Oszilloskope für fortgeschrittenes Debugging und Signalanalyse  
• Smart Bench Essentials Plus  
• Gleichstrom-Leistungsanalysatoren und Source Measure Units (SMUs) für präzise Leistungs- und Zuverlässigkeitsprüfungen  

Vereinbaren Sie eine Demo. Sie erhalten einen kostenlosen Ausstellungsausweis. 

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Buchen Sie noch heute Ihre Demo und besuchen Sie uns an Stand Nr. 721 .