Feria de muestras
Diseña pensando en el análisis. Valida con confianza.
Únete a Keysight en el Simposio Internacional sobre Pruebas y Análisis de Fallos (ISTFA) 2026, que se celebrará en San Antonio, Texas, donde ingenieros y expertos en análisis de fallos se reúnen para explorar los últimos avances en pruebas, depuración y fiabilidad en el ámbito de la microelectrónica.
En torno al tema de este año, «Diseño para el análisis», la ISTFA reúne a ingenieros y expertos del sector para compartir conocimientos prácticos y nuevos enfoques que aborden los retos actuales en materia de diseño y fiabilidad de los semiconductores.
Descubre técnicas prácticas para investigar fallos, validar diseños y mejorar los flujos de trabajo de las pruebas.
Aspectos destacados de la conferencia
Visita a Keysight en el stand n.º 721
Descubre soluciones que te ayudarán a acelerar la depuración, simplificar el análisis de fallos y validar diseños con total confianza a través de demostraciones en directo que incluyen:
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Ingenieros en microelectrónica, diseñadores de semiconductores, profesionales del análisis de fallos, ingenieros de fiabilidad, ingenieros de pruebas, investigadores y cualquier persona responsable de la caracterización, la depuración, la validación o la calidad de los productos.
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