Feria de muestras
Diseña pensando en el análisis. Valida con confianza.
Acompáñanos en el Simposio Internacional sobre Ensayos y Análisis de Fallos (ISTFA) 2026 en San Antonio, donde ingenieros y expertos en análisis de fallos se reúnen para explorar los últimos avances en ensayos, depuración y fiabilidad en el ámbito de la microelectrónica.
En torno al tema de este año, «Diseño para el análisis», la ISTFA reúne a ingenieros y expertos del sector para compartir conocimientos prácticos y nuevos enfoques que aborden los retos actuales en materia de diseño y fiabilidad de los semiconductores. Descubre técnicas prácticas para investigar fallos, validar diseños y mejorar los flujos de trabajo de las pruebas.
Visita a Keysight en el stand n.º 721
Descubre soluciones que te ayudarán a acelerar la depuración, simplificar el análisis de fallos y validar diseños con total confianza a través de demostraciones en directo que incluyen:
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Aspectos destacados de la conferencia |
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Aplicaciones de la inteligencia artificial para el análisis de fallos
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Técnicas y conceptos emergentes en el ámbito de la FA |
Circuito de haz de iones enfocado Editar
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Preparación de muestras y desmontaje de dispositivos |
Aislamiento de fallos de nivel
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Aislamiento de fallos a nivel de paquete
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Casos prácticos: Proceso y flujos de trabajo de FA |
Preparación de muestras para FIB
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Embalaje y montaje
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Dispositivos «System in Package» y 3D
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Rendimiento, pruebas y diagnóstico de productos |
Análisis microscópico y caracterización de materiales |
Dispositivos de potencia de banda ancha (SiC, GaN, nuevos materiales) |
Placas y sistemas
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Electrónica de confianza
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Casos prácticos: Análisis de dispositivos
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Ingenieros en microelectrónica, diseñadores de semiconductores, profesionales del análisis de fallos, ingenieros de fiabilidad, ingenieros de pruebas, investigadores y cualquier persona responsable de la caracterización, la depuración, la validación o la calidad de los productos.
¿Qué busca?