전시회
분석을 위한 설계. 확신을 가지고 검증하십시오.
텍사스주 샌안토니오에서 개최되는 ‘2026 국제 테스트 및 고장 분석 심포지엄(ISTFA)’에서 키사이트와 함께하세요. 이 행사에는 엔지니어와 고장 분석 전문가들이 한자리에 모여 마이크로전자공학 분야의 테스트, 디버깅 및 신뢰성 분야의 최신 발전 동향을 탐구합니다.
ISTFA는 올해의 주제인 ‘분석을 위한 설계(Design for Analysis)’를 중심으로, 엔지니어와 업계 전문가들을 한자리에 모아 오늘날의 반도체 설계 및 신뢰성 과제에 대한 실질적인 통찰과 새로운 접근 방식을 공유합니다.
고장 원인 분석, 설계 검증, 테스트 워크플로우 개선을 위한 실용적인 기법을 살펴보세요.
컨퍼런스 하이라이트
721번 부스에서 키사이트를 방문해 주세요
다음 내용을 소개하는 실시간 시연을 통해 디버깅 속도를 높이고, 고장 분석을 간소화하며, 설계를 확실하게 검증하는 데 도움이 되는 솔루션을 확인해 보세요:
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마이크로전자공학 엔지니어, 반도체 설계자, 고장 분석 전문가, 신뢰성 엔지니어, 테스트 엔지니어, 연구원, 그리고 소자 특성 분석, 디버깅, 검증 또는 제품 품질을 담당하는 모든 분.
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