展示会
解析を見据えた設計。確かな信頼性に基づく検証。
テキサス州サンアントニオで開催される「国際テスト・故障解析シンポジウム（ISTFA）2026」に、キーサイトとともにご参加ください。このイベントには、エンジニアや故障解析の専門家が一堂に会し、マイクロエレクトロニクスのテスト、デバッグ、信頼性に関する最新の進展について議論を交わします。
今年のテーマ「Design for Analysis」を中心に、ISTFAではエンジニアや業界の専門家が一堂に会し、今日の半導体設計および信頼性に関する課題に対する実践的な知見や新たなアプローチを共有します。
不具合の調査、設計の検証、およびテストワークフローの改善に向けた実践的な手法を探ります。
会議のハイライト
キーサイトのブース（#721）へぜひお立ち寄りください
以下の内容を含む実演を通じて、デバッグの迅速化、故障解析の簡素化、そして確かな自信を持って設計を検証するためのソリューションをご覧ください：
デモをご予約ください。無料の展示会入場パスをお受け取りいただけます。
キーサイトのエキスパートによるデモをご予約いただくと、当社限定の登録コードをご利用いただくことで、無料の展示会入場パスを受け取ることができます。
今すぐデモをご予約の上、ブース番号721へお立ち寄りください。
マイクロエレクトロニクスエンジニア、半導体設計者、故障解析の専門家、信頼性エンジニア、テストエンジニア、研究者、およびデバイスの特性評価、デバッグ、検証、あるいは製品品質の責任を担うすべての方。
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