如何使用低雜訊射頻訊號測試高速 ADC 和 DAC

+ Pro XG7 類比訊號產生器

減少轉換器量測中的訊號源雜訊

高速類比數位轉換器（ADC）與數位類比轉換器（DAC）特性分析需要具備足夠雜訊與頻譜效能的 RF 訊號源，以適用於所評估的轉換器與量測。針對所需頻率與位準配置類比激發訊號、時脈相關訊號源或其他適用的 RF 訊號，然後考量訊號源與轉換器之間的纜線、濾波器、分光器、治具和其他元件。

使用適用於目標指標（例如訊號雜訊比 [SNR]、訊號雜訊失真比、有效位元數或無混附動態範圍）的儀器與分析來量測轉換器輸出。在解讀轉換器效能時，將訊號源相位雜訊、寬頻雜訊、振幅雜訊、諧波和混附內容評估為完整測試系統雜訊與失真預算的一部分。

低雜訊資料轉換器測試解決方案

使用受控的射頻激發訊號來特性化高速資料轉換器，此訊號可相對於所測量的行為將雜訊和頻譜偽影降至最低。該解決方案提供低雜訊訊號來評估 ADC 和 DAC 的雜訊、失真與動態效能，同時有助於將源相關的影響與轉換器產生的響應區分開來。低相位雜訊支援受取樣不確定性影響的量測，而低寬頻雜訊則有助於保持對轉換器雜訊基底的可見度。低振幅調變（AM）雜訊、諧波和雜散成分進一步減少了不需要的訊號源貢獻，協助工程師區分激發偽影與轉換器行為，並實現對轉換器和整體測試系統更具代表性的量測。

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