如何使用低雜訊射頻訊號測試高速 ADC 和 DAC

+ Pro XG7 類比訊號產生器

減少轉換器量測中的訊號源雜訊

高速類比數位轉換器（ADC）與數位類比轉換器（DAC）特性分析需要具備足夠雜訊與頻譜效能的 RF 訊號源，以適用於所評估的轉換器與量測。針對所需頻率與位準配置類比激發訊號、時脈相關訊號源或其他適用的 RF 訊號，然後考量訊號源與轉換器之間的纜線、濾波器、分光器、治具和其他元件。

使用適用於目標指標（例如訊號雜訊比 [SNR]、訊號雜訊失真比、有效位元數或無混附動態範圍）的儀器與分析來量測轉換器輸出。在解讀轉換器效能時，將訊號源相位雜訊、寬頻雜訊、振幅雜訊、諧波和混附內容評估為完整測試系統雜訊與失真預算的一部分。

低雜訊資料轉換器測試解決方案

特性化高速資料轉換器，其 RF 訊號源的雜訊與頻譜假影保持在顯著低於您需要量測的行為之水準。Keysight SG6311A Pro XG7 類比訊號產生器提供低雜訊 RF 激發訊號，在評估類比數位轉換器（ADC）與數位類比轉換器（DAC）雜訊、失真和動態效能時，有助於減少訊號源的影響。低相位雜訊支援對取樣不確定性敏感的量測，而低寬頻雜訊則有助於保持對轉換器雜訊基底的可視性。低振幅調變雜訊、諧波和混附內容也有助於您區分訊號源假影與轉換器產生的響應，讓您更有信心確認量測結果反映的是轉換器和完整的測試系統，而非 RF 訊號源帶來的不必要限制。

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