Como testar ADCs e DACs de alta velocidade com sinais de RF de baixo ruído

Pedir cotação
Gerador de sinais analógicos Pro XG7
+ Gerador de Sinais Analógicos Pro XG7
Gerador de sinais analógicos Pro XG7
+ Gerador de Sinais Analógicos Pro XG7

Redução do ruído de fonte em medições com conversor

A caracterização de conversores analógico-digitais (ADC) e digitais-analógicos (DAC) de alta velocidade requer fontes de RF com desempenho espectral e de ruído suficientes para o conversor e a medição em avaliação. Configure o estímulo analógico, a fonte relacionada ao clock ou outro sinal de RF aplicável para a frequência e o nível necessários e, em seguida, leve em consideração cabos, filtros, divisores, dispositivos de fixação e outros elementos entre a fonte e o conversor.

Meça a saída do conversor utilizando instrumentação e métodos de análise adequados à métrica alvo, tais como a relação sinal-ruído (SNR), a relação sinal-ruído-e-distorção, o número efetivo de bits ou a faixa dinâmica livre de espúrios. Avalie o ruído de fase da fonte, o ruído de banda larga, o ruído de amplitude, os harmônicos e o conteúdo de espúrios como parte do balanço completo de ruído e distorção do sistema de teste ao interpretar o desempenho do conversor.

Solução de teste para conversores de dados de baixo ruído

Caracterize conversores de dados de alta velocidade utilizando um estímulo de RF controlado que minimize o ruído e os artefatos espectrais em relação ao comportamento que está sendo medido. A solução fornece um sinal de baixo ruído para avaliar o ruído, a distorção e o desempenho dinâmico do ADC e do DAC, ao mesmo tempo em que ajuda a separar os efeitos relacionados à fonte das respostas geradas pelo conversor. O baixo ruído de fase permite medições mesmo quando há incerteza de amostragem, enquanto o baixo ruído de banda larga ajuda a preservar a visibilidade do piso de ruído do conversor. O baixo ruído de modulação de amplitude (AM), harmônicos e conteúdo espúrio reduzem ainda mais as contribuições indesejadas da fonte, ajudando os engenheiros a distinguir artefatos do estímulo do comportamento do conversor e a obter medições mais representativas do conversor e de todo o sistema de teste.
Pedir cotação

Veja o diagrama de blocos da solução de teste para conversores de dados de baixo ruído

Como testar ADCs e DACs de alta velocidade com sinais de RF de baixo ruído – Diagrama de blocos

Conheça os produtos da nossa solução de teste para conversores de dados de baixo ruído

Casos de uso relacionados

Como caracterizar barramentos seriais

A caracterização de barramentos seriais em projetos incorporados requer a depuração e a correlação de transferências de dados com outras interações de sinais mistos. Saiba como depurar I2C, SPI, UART e outros barramentos seriais com um osciloscópio.

Saiba mais

Como avaliar as características IV dos LEDs

A caracterização da corrente e da tensão (IV) para LEDs com eficiência energética exige a capacidade de gerá-las e medi-las simultaneamente. Saiba como avaliar as características de IV de dispositivos de dois e três terminais com uma unidade de fonte/medição.

Saiba mais

Como testar semicondutores de amplo intervalo de banda

A caracterização de semicondutores WGB (wide-bandgap) exige o teste de parâmetros estáticos e dinâmicos para evitar perdas. Saiba como realizar testes JEDEC para dispositivos WBG, incluindo ligar/desligar, comutação e outros testes padronizados de forma repetitiva.

Saiba mais

logotipo de contato

Entre em contato com um de nossos especialistas

Precisa de ajuda para encontrar a solução certa para você?

Contacte-nos