Como testar ADCs e DACs de alta velocidade com sinais de RF de baixo ruído

Gerador de sinais analógicos Pro XG7
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Redução do ruído de fonte em medições com conversor

A caracterização de conversores analógico-digitais (ADC) e digitais-analógicos (DAC) de alta velocidade requer fontes de RF com desempenho espectral e de ruído suficientes para o conversor e a medição em avaliação. Configure o estímulo analógico, a fonte relacionada ao clock ou outro sinal de RF aplicável para a frequência e o nível necessários e, em seguida, leve em consideração cabos, filtros, divisores, dispositivos de fixação e outros elementos entre a fonte e o conversor.

Meça a saída do conversor utilizando instrumentação e métodos de análise adequados à métrica alvo, tais como a relação sinal-ruído (SNR), a relação sinal-ruído-e-distorção, o número efetivo de bits ou a faixa dinâmica livre de espúrios. Avalie o ruído de fase da fonte, o ruído de banda larga, o ruído de amplitude, os harmônicos e o conteúdo de espúrios como parte do balanço completo de ruído e distorção do sistema de teste ao interpretar o desempenho do conversor.

Solução de teste para conversores de dados de baixo ruído

Caracterize conversores de dados de alta velocidade com uma fonte de RF cujo ruído e artefatos espectrais permaneçam suficientemente abaixo do comportamento que você precisa medir. O gerador de sinal analógico Keysight SG6311A Pro XG7 fornece um estímulo de RF de baixo ruído que ajuda a reduzir as contribuições da fonte ao avaliar o ruído, a distorção e o desempenho dinâmico de conversores analógico-digitais (ADC) e digitais-analógicos (DAC). O baixo ruído de fase permite medições sensíveis à incerteza de amostragem, enquanto o baixo ruído de banda larga ajuda a preservar a visibilidade do piso de ruído do conversor. O baixo ruído de modulação de amplitude, harmônicos e conteúdo espúrio também ajudam a distinguir artefatos da fonte das respostas geradas pelo conversor, proporcionando maior confiança de que a medição reflete o conversor e o sistema de teste completo, em vez de limitações desnecessárias decorrentes da fonte de RF.

Veja o diagrama de blocos da solução de teste para conversores de dados de baixo ruído

Como testar ADCs e DACs de alta velocidade com sinais de RF de baixo ruído – Diagrama de blocos

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