低ノイズのRF信号を用いた高速ADCおよびDACのテスト方法

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+ Pro XG7 アナログ信号発生器

コンバータ測定におけるソースノイズの低減

高速のアナログ/デジタル・コンバータ（ADC）およびデジタル/アナログ・コンバータ（DAC）のキャラクタリゼーションには、評価対象のコンバータおよび測定に対して十分なノイズ性能とスペクトラム性能を備えたRFソースが必要です。必要な周波数とレベルに合わせてアナログ刺激、クロック関連のソース、またはその他の該当するRF信号を構成し、ソースとコンバータの間にあるケーブル、フィルター、スプリッタ、フィクスチャ、その他の要素を考慮します。

S/N比（SNR）、SINAD（信号対雑音歪み比）、有効ビット数（ENOB）、スプリアスフリー・ダイナミック・レンジ（SFDR）など、ターゲットとするメトリックに適した計測器と解析を使用して、コンバータ出力を測定します。コンバータの性能を解釈する際は、完全なテストシステムのノイズおよび歪みバジェットの一部として、ソースの位相ノイズ、広帯域ノイズ、振幅ノイズ、高調波、およびスプリアス成分を評価します。

低ノイズ・データコンバータ向けテストソリューション

測定対象の挙動に対するノイズやスペクトラムのアーティファクトを最小限に抑えた制御されたRF刺激を使用して、高速データ・コンバータを特性評価します。このソリューションは、ADCおよびDACのノイズ、歪み、動的性能を評価するための低ノイズ信号を提供すると同時に、ソース起因の影響とコンバータ生成の応答の切り分けを支援します。低い位相雑音はサンプリングの不確かさの影響を受ける測定をサポートし、低い広帯域ノイズはコンバータのノイズフロアの視認性の維持に貢献します。さらに、低い振幅変調（AM）ノイズ、高調波、およびスプリアス成分により不要なソース寄与が軽減され、エンジニアが刺激のアーティファクトとコンバータの挙動を区別し、コンバータおよびテストシステム全体のより代表的な測定を実現するのに役立ちます。

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