Comment tester des convertisseurs analogiques-numériques (ADC) et des convertisseurs numériques-analogiques (DAC) à haute vitesse à l'aide de signaux RF à faible bruit

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Réduire le bruit de source lors des mesures de convertisseurs

La caractérisation des convertisseurs analogique-numérique (CAN) et numérique-analogique (CNA) à haute vitesse nécessite des sources RF présentant des performances en matière de bruit et de spectre suffisantes pour le convertisseur et la mesure à évaluer. Configurez le signal de stimulation analogique, la source d'horloge ou tout autre signal RF applicable en fonction de la fréquence et du niveau requis, puis tenez compte des câbles, filtres, répartiteurs, montages et autres éléments situés entre la source et le convertisseur.

Mesurez la sortie du convertisseur à l'aide d'instruments et de méthodes d'analyse adaptés à la paramètre cible, tels que le rapport signal/bruit (SNR), le rapport signal/bruit et distorsion, le nombre effectif de bits ou la plage dynamique sans parasites. Évaluez le bruit de phase de la source, le bruit à large bande, le bruit d'amplitude, les harmoniques et la teneur en parasites dans le cadre du bilan global du bruit et de la distorsion du système de test lors de l'interprétation des performances du convertisseur.

Solution de test pour convertisseurs de données à faible bruit

Caractérisez les convertisseurs de données à haute vitesse à l'aide d'un stimulus RF contrôlé qui minimise le bruit et les artefacts spectraux par rapport au comportement mesuré. La solution fournit un signal à faible bruit permettant d'évaluer le bruit, la distorsion et les performances dynamiques des convertisseurs analogiques-numériques (ADC) et numériques-analogiques (DAC), tout en aidant à distinguer les effets liés à la source des réponses générées par le convertisseur. Un faible bruit de phase facilite les mesures affectées par l’incertitude d’échantillonnage, tandis qu’un faible bruit à large bande permet de mieux visualiser le seuil de bruit du convertisseur. Un faible bruit de modulation d’amplitude (AM), d’harmoniques et de signaux parasites réduit encore davantage les contributions indésirables de la source, aidant ainsi les ingénieurs à distinguer les artefacts du signal de stimulation du comportement du convertisseur et à obtenir des mesures plus représentatives du convertisseur et du système de test dans son ensemble.
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