如何執行低功耗積體電路 IV 特性分析

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低功耗積體電路 (IC) IV 測試

低功耗 IC 特性分析需要量測跨多種操作狀態的電流對電壓行為，包括休眠、待機和主動模式。測試設定通常包含一個源測量單元 (SMU)，配置為在同時量測多個裝置節點的響應訊號時，提供電壓或電流。量測必須以足夠的解析度和時序準確度，擷取靜態直流條件和動態轉換。

量測過程涉及施加受控偏壓條件、監測不同狀態下的電流消耗，並擷取狀態轉換期間的暫態行為，例如開機或喚醒事件。多通道同步和觸發控制可實現跨待測裝置 (DUT) 多個接腳的協調量測。資料擷取系統收集電壓和電流波形以進行分析，支援在實際操作條件下驗證裝置性能。

低功耗積體電路 (IC) IV 測試解決方案

低功耗 IC IV 特性分析需要精確的源和量測能力，結合同步多通道操作和高速資料擷取。此解決方案採用高通道密度 SMU 平台，將電壓和電流源、量測、脈衝和數位化功能整合到單一系統中。它能夠在多種操作狀態下進行靜態和動態 IV 特性分析。該系統支援高通道密度，在緊湊的佔用空間內提供多達 20 個 SMU 通道，從而降低測試複雜性和設備要求。它提供從超低電流到高暫態電流的寬動態範圍量測，並支援快速取樣率以擷取暫態行為。整合式觸發系統可實現通道和外部設備之間的精確同步，從而準確地表徵複雜的低功耗 IC 行為。
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