如何執行低功耗積體電路 IV 特性分析

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低功耗積體電路（IC）IV 測試

低功耗積體電路（IC）的特性分析，需要測量其在多種運作狀態（包括睡眠模式、待機模式及活躍模式）下的電流-電壓特性。測試系統通常包含一臺源量測單元（SMU），該單元可配置為提供電壓或電流，同時測量多個裝置節點間的響應訊號。測量結果必須以足夠的分辨率和時間精度，同時捕捉靜態直流狀態與動態轉換過程。

測量過程包含施加受控的偏壓條件、監測不同狀態下的電流消耗，以及擷取狀態轉換期間（例如上電或喚醒事件）的瞬態行為。透過多通道同步與觸發控制，可對被測裝置（DUT）的多個引腳進行協調測量。資料擷取系統會收集電壓與電流波形以供分析，藉此驗證裝置在實際運作條件下的性能。

低功耗積體電路 (IC) IV 測試解決方案

低功耗積體電路（IC）的電流-電壓（IV）特性分析，需要具備精確的電壓與電流源供電及量測能力，並結合同步多通道運作與高速資料擷取功能。此解決方案採用高通道密度 SMU 平台，將電壓與電流源供電、量測、脈衝產生及數位化功能整合至單一系統中。它能跨多種運作狀態進行靜態與動態的 IV 特性分析。 該系統具備高通道密度，在緊湊的佔用空間內可提供多達 20 個 SMU 通道，從而降低測試複雜度並減少設備需求。它提供從超低電流到高瞬態電流的寬動態範圍測量能力，並支援高速採樣率以擷取瞬態行為。整合的觸發系統可實現各通道與外部設備之間的精確同步，從而能準確表徵複雜的低功耗 IC 行為。
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