저전력 IC의 IV 특성 분석 수행 방법

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저전력 집적 회로(IC) IV 테스트

저전력 IC 특성화는 슬립, 대기 및 활성 모드를 포함한 여러 작동 상태에서 전류 대 전압 동작을 측정해야 합니다. 테스트 설정에는 일반적으로 여러 디바이스 노드에서 응답 신호를 동시에 측정하면서 전압 또는 전류를 소싱하도록 구성된 소스 측정 장치(SMU)가 포함됩니다. 측정은 충분한 분해능과 타이밍 정확도로 정적 DC 조건과 동적 전환을 모두 캡처해야 합니다.

측정 프로세스에는 제어된 바이어스 조건 적용, 다양한 상태에서 전류 소비 모니터링, 전원 켜기 또는 웨이크업 이벤트와 같은 상태 전환 중 과도 동작 캡처가 포함됩니다. 다중 채널 동기화 및 트리거 제어는 DUT(테스트 대상 디바이스)의 여러 핀에서 조정된 측정을 가능하게 합니다. 데이터 수집 시스템은 분석을 위해 전압 및 전류 파형을 수집하여 실제 작동 조건에서 디바이스 성능 검증을 지원합니다.

저전력 집적회로(IC) IV 테스트 솔루션

저전력 IC IV 특성화는 동기화된 다중 채널 작동 및 고속 데이터 캡처와 결합된 정밀한 소싱 및 측정 기능을 필요로 합니다. 이 솔루션은 전압 및 전류 소싱, 측정, 펄싱 및 디지털화 기능을 단일 시스템에 통합하는 고채널 밀도 SMU 플랫폼을 사용합니다. 이 솔루션은 여러 작동 상태에서 정적 및 동적 IV 특성화를 모두 가능하게 합니다. 이 시스템은 컴팩트한 풋프린트에 최대 20개의 SMU 채널을 갖춘 높은 채널 밀도를 지원하여 테스트 복잡성과 장비 요구 사항을 줄입니다. 초저전류에서 높은 과도 전류에 이르는 넓은 동적 범위 측정을 제공하며 과도 동작 캡처를 위한 빠른 샘플링 속도를 지원합니다. 통합 트리거 시스템은 채널 및 외부 장비 전반에 걸쳐 정밀한 동기화를 가능하게 하여 복잡한 저전력 IC 동작을 정확하게 특성화할 수 있습니다.
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