So führen Sie die IV-Charakterisierung von Low-Power-ICs durch

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IV-Tests für Low-Power-ICs (integrierte Schaltungen)

Die Charakterisierung von Low-Power-ICs erfordert die Messung des Strom-Spannungs-Verhaltens über mehrere Betriebszustände hinweg, einschließlich Schlaf-, Standby- und Aktivmodi. Der Testaufbau umfasst typischerweise eine Source-Measure-Unit (SMU), die so konfiguriert ist, dass sie Spannung oder Strom liefert, während gleichzeitig Antwortsignale über mehrere Geräteknoten hinweg gemessen werden. Messungen müssen sowohl statische DC-Bedingungen als auch dynamische Übergänge mit ausreichender Auflösung und Zeitgenauigkeit erfassen.

Der Messprozess umfasst das Anlegen kontrollierter Vorspannungsbedingungen, die Überwachung des Stromverbrauchs über verschiedene Zustände hinweg und die Erfassung des transienten Verhaltens während Zustandsübergängen wie Einschalt- oder Aufwachereignissen. Mehrkanal-Synchronisation und Triggersteuerung ermöglichen koordinierte Messungen über mehrere Pins des Prüflings (DUT). Datenerfassungssysteme erfassen Spannungs- und Stromwellenformen zur Analyse und unterstützen die Validierung der Geräteleistung unter realen Betriebsbedingungen.

IV-Testlösung für Low-Power-ICs (integrierte Schaltungen)

Die IV-Charakterisierung von Low-Power-ICs erfordert präzise Quell- und Messfunktionen in Kombination mit einem synchronisierten Mehrkanalbetrieb und einer hochratigen Datenerfassung. Diese Lösung verwendet eine SMU-Plattform mit hoher Kanaldichte, die Spannungs- und Stromquellen-, Mess-, Puls- und Digitisierfunktionen in einem einzigen System integriert. Sie ermöglicht sowohl statische als auch dynamische IV-Charakterisierungen über mehrere Betriebszustände hinweg. Das System unterstützt eine hohe Kanaldichte mit bis zu 20 SMU-Kanälen in einem kompakten Formfaktor, wodurch die Testkomplexität und die Anforderungen an die Ausrüstung reduziert werden. Es bietet Messungen über einen breiten Dynamikbereich von ultrakleinen Strömen bis hin zu hohen Transientenströmen und unterstützt schnelle Abtastraten zur Erfassung des Transientenverhalten. Integrierte Triggersysteme ermöglichen eine präzise Synchronisation zwischen Kanälen und externen Geräten, wodurch eine genaue Charakterisierung des Verhaltens komplexer Low-Power-ICs ermöglicht wird.
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Siehe Blockdiagramm der IV-Testlösung für Low-Power-ICs (integrierte Schaltungen)

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