So führen Sie die IV-Charakterisierung von Low-Power-ICs durch

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IV-Tests für Low-Power-ICs (integrierte Schaltungen)

Die Charakterisierung von Low-Power-ICs erfordert die Messung des Strom-Spannungs-Verhaltens über mehrere Betriebszustände hinweg, einschließlich Schlaf-, Standby- und Aktivmodi. Der Testaufbau umfasst typischerweise eine Source-Measure-Unit (SMU), die so konfiguriert ist, dass sie Spannung oder Strom liefert, während gleichzeitig Antwortsignale über mehrere Geräteknoten hinweg gemessen werden. Messungen müssen sowohl statische DC-Bedingungen als auch dynamische Übergänge mit ausreichender Auflösung und Zeitgenauigkeit erfassen.

Der Messprozess umfasst das Anlegen kontrollierter Vorspannungsbedingungen, die Überwachung des Stromverbrauchs über verschiedene Zustände hinweg und die Erfassung des transienten Verhaltens während Zustandsübergängen wie Einschalt- oder Aufwachereignissen. Mehrkanal-Synchronisation und Triggersteuerung ermöglichen koordinierte Messungen über mehrere Pins des Prüflings (DUT). Datenerfassungssysteme erfassen Spannungs- und Stromwellenformen zur Analyse und unterstützen die Validierung der Geräteleistung unter realen Betriebsbedingungen.

IV-Testlösung für Low-Power-ICs (integrierte Schaltungen)

Die IV-Charakterisierung von Low-Power-ICs erfordert präzise Quell- und Messfunktionen, kombiniert mit synchronisiertem Mehrkanalbetrieb und Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung. Diese Lösung verwendet eine SMU-Plattform mit hoher Kanaldichte, die Spannungs- und Stromversorgung, Messung, Pulsung und Digitalisierungsfunktionen in einem einzigen System integriert. Sie ermöglicht sowohl statische als auch dynamische IV-Charakterisierung über mehrere Betriebszustände hinweg. Das System unterstützt eine hohe Kanaldichte mit bis zu 20 SMU-Kanälen auf geringem Raum, wodurch die Testkomplexität und der Gerätebedarf reduziert werden. Es bietet Messungen mit großem Dynamikbereich von extrem niedrigen Strömen bis zu hohen transienten Strömen und unterstützt schnelle Abtastraten zur Erfassung transienten Verhaltens. Integrierte Triggersysteme ermöglichen eine präzise Synchronisation über Kanäle und externe Geräte hinweg, was eine genaue Charakterisierung des komplexen Verhaltens von Low-Power-ICs ermöglicht.
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Siehe Blockdiagramm der IV-Testlösung für Low-Power-ICs (integrierte Schaltungen)

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