低消費電力ICのIV特性評価の実施方法

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低消費電力集積回路 (IC) IVテスト

低消費電力ICの特性評価には、スリープ、スタンバイ、アクティブモードを含む複数の動作状態にわたる電流対電圧特性の測定が必要です。テストセットアップには通常、電圧または電流を供給し、複数のデバイスノードで応答信号を同時に測定するように構成されたソースメジャーユニット (SMU) が含まれます。測定では、静的なDC条件と動的な遷移の両方を十分な分解能とタイミング精度で捕捉する必要があります。

測定プロセスには、制御されたバイアス条件の印加、異なる状態での電流消費の監視、および電源投入やウェイクアップイベントなどの状態遷移中の一過性動作の捕捉が含まれます。マルチチャネル同期とトリガ制御により、被測定デバイス (DUT) の複数のピンにわたる協調測定が可能になります。データ収集システムは、解析のために電圧および電流波形を収集し、実際の動作条件下でのデバイス性能の検証をサポートします。

低消費電力集積回路（IC）のIVテストソリューション

低消費電力ICのIV特性評価には、高精度なソースおよび測定機能と、同期されたマルチチャネル動作および高速データ捕捉機能が必要です。このソリューションは、電圧および電流の供給、測定、パルス生成、デジタイジング機能を単一システムに統合した高チャネル密度SMUプラットフォームを使用しています。これにより、複数の動作状態にわたる静的および動的IV特性評価の両方が可能になります。このシステムは、コンパクトなフットプリントで最大20 SMUチャネルの高チャネル密度をサポートし、テストの複雑さと機器要件を削減します。超低電流から高過渡電流までの広いダイナミックレンジ測定を提供し、過渡動作を捕捉するための高速サンプリングレートをサポートします。統合されたトリガシステムにより、チャネル間および外部機器との正確な同期が可能になり、複雑な低消費電力IC動作の正確な特性評価を実現します。
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