低消費電力ICのIV特性評価の実施方法

ウェブ見積
モジュラー型ソース・メジャ・ユニット
+ モジュラー・ソース・メジャー・ユニット
モジュラー型ソース・メジャ・ユニット
+ モジュラー・ソース・メジャー・ユニット

低消費電力集積回路（IC）のIV特性試験

低消費電力ICの特性評価では、スリープモード、スタンバイモード、アクティブモードなど、複数の動作状態における電流対電圧の挙動を測定する必要があります。通常、テストセットアップには、電圧または電流を供給すると同時に、複数のデバイスノード間の応答信号を測定するように構成されたソース・メジャー・ユニット（SMU）が含まれます。測定では、静的な直流状態と動的な遷移の両方を、十分な分解能とタイミング精度で捉える必要があります。

測定プロセスでは、制御されたバイアス条件を適用し、さまざまな状態における消費電流を監視するとともに、電源投入やウェイクアップイベントなどの状態遷移時の過渡挙動を捕捉します。マルチチャネル同期およびトリガー制御により、被測定デバイス（DUT）の複数のピンにわたる協調的な測定が可能になります。データ収集システムは、分析用の電圧および電流波形を収集し、実際の動作条件下におけるデバイスの性能検証を支援します。

低消費電力集積回路（IC）のIVテストソリューション

低消費電力ICのIV特性評価には、同期したマルチチャンネル動作と高速データ取得を組み合わせた、高精度な電圧・電流供給および測定機能が必要です。このソリューションは、電圧・電流の供給、測定、パルス出力、およびデジタル化機能を単一のシステムに統合した、高チャンネル密度のSMUプラットフォームを採用しています。これにより、複数の動作状態にわたる静的および動的なIV特性評価が可能になります。 本システムは、コンパクトな筐体で最大20チャンネルのSMUチャンネルを備えた高チャンネル密度を実現し、テストの複雑さと必要な機器数を削減します。超低電流から高い過渡電流に至るまで広いダイナミックレンジでの測定が可能であり、過渡挙動を捕捉するための高速サンプリングレートにも対応しています。統合されたトリガーシステムにより、チャンネル間および外部機器との正確な同期が可能となり、複雑な低消費電力ICの挙動を正確に評価することができます。
ウェブ見積

低消費電力集積回路のブロック図を参照してください IV テストソリューション

低消費電力ICのIV特性評価の実施方法

当社の低消費電力IC IVテストソリューションの製品をご覧ください

関連するユースケース

断熱材の比抵抗の測定方法

静電計と比抵抗セルを用いて、絶縁材料の表面比抵抗および体積比抵抗を高精度で測定する。

詳細はこちら

FETアンプの設計と最適化の方法

シミュレーションおよび計測ワークフローを活用してFETアンプを設計・最適化し、RF性能を正確に検証する。

詳細はこちら

バイポーラトランジスタのIV特性曲線の測定方法

正確なデバイス解析を行うため、同期したデュアルチャネルSMU測定を用いてBJTの電流-電圧特性を評価する。

詳細はこちら

お問い合わせ ロゴ

当社のエキスパートにお問い合わせください。

所望のソリューションを見つけるのにお困りですか？

お問い合わせ