Comment réaliser la caractérisation IV d'un circuit intégré à faible consommation

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Essais IV sur les circuits intégrés (CI) à faible consommation

La caractérisation des circuits intégrés à faible consommation nécessite de mesurer la relation courant-tension dans différents états de fonctionnement, notamment les modes veille, veille active et actif. Le banc d'essai comprend généralement une unité de mesure et d'alimentation (SMU) configurée pour fournir une tension ou un courant tout en mesurant simultanément les signaux de réponse sur plusieurs nœuds du dispositif. Les mesures doivent permettre de saisir à la fois les conditions statiques en courant continu et les transitions dynamiques avec une résolution et une précision temporelle suffisantes.

Le processus de mesure consiste à appliquer des conditions de polarisation contrôlées, à surveiller la consommation de courant dans différents états et à enregistrer le comportement transitoire lors des transitions d'état, telles que la mise sous tension ou les événements de réveil. La synchronisation multicanal et le contrôle des déclencheurs permettent d'effectuer des mesures coordonnées sur plusieurs broches du dispositif sous test (DUT). Les systèmes d'acquisition de données collectent les formes d'onde de tension et de courant à des fins d'analyse, ce qui facilite la validation des performances du dispositif dans des conditions de fonctionnement réelles.

Solution de test IV pour circuits intégrés (CI) à faible consommation

La caractérisation IV des circuits intégrés à faible consommation nécessite des capacités précises d’injection et de mesure, associées à un fonctionnement multicanal synchronisé et à une acquisition de données à haute vitesse. Cette solution utilise une plateforme SMU à haute densité de canaux qui intègre, au sein d’un même système, des fonctions d’injection de tension et de courant, de mesure, de génération d’impulsions et de numérisation. Elle permet une caractérisation IV à la fois statique et dynamique dans de multiples états de fonctionnement. Le système prend en charge une densité de canaux élevée, avec jusqu’à 20 canaux SMU dans un format compact, ce qui réduit la complexité des tests et les besoins en équipement. Il offre une large plage dynamique de mesure, allant des courants ultra-faibles aux courants transitoires élevés, et prend en charge des fréquences d’échantillonnage rapides pour capturer les comportements transitoires. Les systèmes de déclenchement intégrés permettent une synchronisation précise entre les canaux et les équipements externes, ce qui permet une caractérisation précise du comportement complexe des circuits intégrés à faible consommation.
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