Come eseguire la caratterizzazione IV di circuiti integrati a bassa potenza

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Test IV dei circuiti integrati (IC) a bassa potenza

La caratterizzazione dei circuiti integrati a basso consumo richiede la misurazione dell'andamento della corrente in funzione della tensione in diversi stati operativi, tra cui le modalità sleep, standby e attiva. La configurazione di prova prevede in genere l'utilizzo di un'unità di misura e alimentazione (SMU) configurata per fornire tensione o corrente, misurando contemporaneamente i segnali di risposta su più nodi del dispositivo. Le misurazioni devono rilevare sia le condizioni statiche in corrente continua sia le transizioni dinamiche con risoluzione e precisione temporale sufficienti.

Il processo di misurazione prevede l'applicazione di condizioni di polarizzazione controllate, il monitoraggio del consumo di corrente nei diversi stati e la registrazione del comportamento transitorio durante le transizioni di stato, quali l'accensione o gli eventi di riattivazione. La sincronizzazione multicanale e il controllo dei trigger consentono di effettuare misurazioni coordinate su più pin del dispositivo in prova (DUT). I sistemi di acquisizione dati raccolgono le forme d'onda di tensione e corrente ai fini dell'analisi, supportando la convalida delle prestazioni del dispositivo in condizioni operative reali.

Soluzione di test IV per circuiti integrati (IC) a bassa potenza

La caratterizzazione IV dei circuiti integrati a bassa potenza richiede capacità precise di generazione e misurazione, combinate con un funzionamento multicanale sincronizzato e l’acquisizione dei dati ad alta velocità. Questa soluzione utilizza una piattaforma SMU ad alta densità di canali che integra in un unico sistema le funzioni di generazione di tensione e corrente, misurazione, emissione di impulsi e digitalizzazione. Consente la caratterizzazione IV sia statica che dinamica in diversi stati operativi. Il sistema supporta un’elevata densità di canali, con un massimo di 20 canali SMU in un ingombro ridotto, riducendo la complessità dei test e i requisiti delle apparecchiature. Offre un’ampia gamma dinamica di misurazione, dalle correnti ultra-basse alle correnti transitorie elevate, e supporta frequenze di campionamento elevate per l’acquisizione del comportamento transitorio. I sistemi di trigger integrati consentono una sincronizzazione precisa tra i canali e le apparecchiature esterne, permettendo una caratterizzazione accurata del comportamento complesso dei circuiti integrati a bassa potenza.
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