Wie man die IV-Charakterisierung von Low-Power-ICs durchführt

Modulare Quellenmesseinheit
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Prüfung von integrierten Schaltungen (ICs) mit niedrigem Stromverbrauch (IV)

Die Charakterisierung von ICs mit geringem Stromverbrauch erfordert die Messung des Strom-Spannungs-Verhaltens in verschiedenen Betriebszuständen, darunter Schlaf-, Standby- und Aktivmodus. Der Testaufbau umfasst typischerweise eine Source-Measure-Unit (SMU), die Spannung oder Strom liefert und gleichzeitig die Antwortsignale an mehreren Geräteknoten misst. Die Messungen müssen sowohl statische Gleichstrombedingungen als auch dynamische Übergänge mit ausreichender Auflösung und Zeitgenauigkeit erfassen.

Der Messprozess umfasst das Anlegen kontrollierter Vorspannungsbedingungen, die Überwachung des Stromverbrauchs in verschiedenen Zuständen und die Erfassung des transienten Verhaltens bei Zustandsübergängen wie dem Einschalten oder Aufwachen. Mehrkanal-Synchronisation und Triggersteuerung ermöglichen koordinierte Messungen an mehreren Pins des Prüflings. Datenerfassungssysteme erfassen Spannungs- und Stromverläufe zur Analyse und unterstützen so die Validierung der Geräteperformance unter realen Betriebsbedingungen.

Testlösung für integrierte Schaltungen (ICs) mit niedrigem Stromverbrauch (IV)

Die IV-Charakterisierung von stromsparenden ICs erfordert präzise Spannungsversorgung und Messfunktionen in Kombination mit synchronisiertem Mehrkanalbetrieb und schneller Datenerfassung. Diese Lösung nutzt eine SMU-Plattform mit hoher Kanaldichte, die Spannungs- und Stromversorgung, Messung, Pulsierung und Digitalisierung in einem einzigen System integriert. Sie ermöglicht sowohl statische als auch dynamische IV-Charakterisierung über verschiedene Betriebszustände hinweg. Das System unterstützt eine hohe Kanaldichte mit bis zu 20 SMU-Kanälen auf kleinem Raum und reduziert so die Komplexität der Tests und den Geräteaufwand. Es bietet einen großen dynamischen Messbereich von extrem niedrigen Strömen bis hin zu hohen transienten Strömen und unterstützt hohe Abtastraten zur Erfassung transienten Verhaltens. Integrierte Triggersysteme ermöglichen eine präzise Synchronisierung zwischen den Kanälen und externen Geräten und somit eine genaue Charakterisierung des komplexen Verhaltens stromsparender ICs.

Siehe Blockdiagramm der IV-Testlösung für integrierte Schaltungen mit geringem Stromverbrauch

Wie man die IV-Charakterisierung von Low-Power-ICs durchführt

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