如何測試寬禁帶半導體

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透過雙脈衝測試檢定寬能隙 (WBG) 半導體。

寬能隙（WBG）半導體材料，例如氮化鎵（GaN），需要測試靜態和動態參數，以避免切換暫態期間的損耗。雙脈衝測試（DPT）系統可根據 JEDEC WBG 半導體標準執行動態測試，包括導通、關斷、切換、反向恢復和閘極電荷。

DPT 系統應包含儀器、探棒、安全系統、自動控制軟體、自動校準常式、測試夾具，以及適用於不同裝置配置的測試板。此外，還需要一個負載電感器。設備設定完成後，請在軟體的硬體配置選單中輸入電路板參數，並指定所需的外部電感器及其值。接著，設定 R²GC 電流感測器。完成後，即可選擇裝置以配置測試。

雙脈衝測試解決方案

執行雙脈衝測試 (DPT)，並採用半自動校驗方法和量測技術。Keysight 動態功率元件分析儀/雙脈衝測試儀是一種一體式測試解決方案，可實現可靠且可重複的寬能隙 (WBG) (SiC、GaN) 功率半導體動態特性量測，以符合 JEDEC 規範。其中包含以下量測技術：探棒補償、偏移調整、去傾斜和共模雜訊抑制。 
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