如何測試寬能隙半導體

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透過雙脈衝測試來分析 WBG 半導體

針對氮化鎵（GaN）等寬能隙（WBG）半導體材料，您需同時測試靜態和動態參數，避免在切換暫態時造成損耗。 雙脈衝測試（DPT）系統可根據 JEDEC 標準規範，對 WBG 半導體執行動態測試，包括開啟、關閉、切換、反向恢復和閘極電荷。

DPT 系統應包含儀器儀錶、探棒、安全系統、自動化控制軟體、自動校驗程式、測試夾具，以及適用於不同裝置配置的測試板。 此外還需要一個負載電感器。 完成設備設定後，請在軟體的硬體設定選單中輸入電路板參數，然後指定所需的外部電感器及其數值。 接下來，設定 R²GC 電流感測器。 完成後，選擇元件，以便進行測試配置。

透過雙脈衝測試來分析 WBG 半導體

雙脈衝測試解決方案

使用半自動校驗方法和量測技術，來執行雙脈衝測試（DPT）。 Keysight PD1500A 動態功率元件分析儀/雙脈衝測試儀為多合一測試解決方案，可根據 JEDEC 規格，對寬能隙（SiC、GaN）功率半導體的動態特性進行可靠、可重複的量測。 您需使用下列量測技巧：探棒補償、偏移調整、偏移校正和共模雜訊抑制。
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