如何評估用於 3D 感測的 VCSEL LIV 性能

專業級桌上型源量測單元
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執行快速且精確的 VCSEL LIV 特性分析

VCSEL LIV 特性分析需要施加受控的電流掃描,同時在多個通道上測量電壓與光輸出。測試系統必須能在同步通道上提供電流或電壓,並精確測量電壓、電流以及光偵測器的響應,以捕捉裝置在各種工作條件下的行為表現。

測量過程涉及掃描 VCSEL 的驅動電流,同時在每個步驟記錄正向電壓與發射光功率。要獲得精確的結果,關鍵在於同步的多通道運作、正確的量測範圍設定,以及在寬廣的動態範圍內捕捉光輸出的小幅變化,藉此生成 LIV 曲線與斜率效率曲線。此外,量測系統還必須維持低雜訊表現與一致的時序,才能偵測到可能影響光學穩定性與元件性能的非線性現象,例如摺點。

VCSEL LIV 特性分析解決方案

VCSEL LIV 特性分析需要同時進行電流供給,並在多個通道上進行同步的電壓與光學測量。此解決方案整合了雙通道源量測單元,不僅能精確供給電流與電壓,更具備高解析度的測量性能。它支援高速掃頻操作與脈衝電流功能,不僅能進行精確的 LIV 特性分析,還能將測試過程中的自熱效應降至最低。 該系統透過直觀的圖形化介面,實現自動電流掃描、同步觸發、即時圖表視覺化及資料記錄功能。其他功能還包括:具備低雜訊測量性能,可偵測 LIV 曲線的非線性及斜率效率變化;具備合規性保護機制以防止元件損壞;以及基於 SCPI 的靈活軟體控制選項以實現自動化,從而使該系統能在實驗室及生產環境中進行高效且可重複的 VCSEL 特性分析。

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VCSEL LIV 特性分析解決方案的系統框圖

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