如何評估用於 3D 感測的 VCSEL LIV 性能

+ 專業桌上型源量測單元

執行快速且精確的 VCSEL LIV 特性分析

VCSEL LIV 特性分析需要在多個通道上同時施加受控的電流掃描，並同步測量電壓與光學輸出。測試設置必須支援在同步通道上源電流或源電壓，同時精確測量電壓、電流與光電探測器響應，以便擷取元件在各種工作條件下的行為表現。

測量過程包括掃描 VCSEL 驅動電流，同時在每個步驟中記錄順向電壓與發射光功率。精確的結果取決於同步的多通道運作、正確的測量範圍配置，以及在寬動態範圍內擷取光學輸出的微小變化，以產生 LIV 與斜率效率曲線。測量系統還必須維持低雜訊性能和一致的時序，以檢測可能影響光學穩定性和元件性能的非線性效應（例如扭結）。

VCSEL LIV 特性分析解決方案

VCSEL LIV 特性分析需要在多個通道上同時進行電流輸出以及同步的電壓與光學測量。該解決方案整合了雙通道源測定單元（SMU），能夠以高解析度測量性能進行精密的電流與電壓輸出。它支援高速掃描運作和脈衝電流功能，可在測試期間將自熱效應降至最低的同時，實現精確的 LIV 特性分析。此系統透過直覺的圖形介面，實現自動化電流掃描、同步觸發、即時圖形視覺化與資料記錄。其他功能包括用於檢測 LIV 曲線非線性與斜率效率變化的低雜訊測量性能、可防止元件受損的合規保護功能，以及用於自動化的彈性 SCPI 軟體控制選項，可在實驗室與生產環境中實現高效率且可重複的 VCSEL 特性分析。

索取報價