Cómo caracterizar el rendimiento de los LIV VCSEL para la detección 3D
Realizar una caracterización rápida y precisa del LIV de VCSEL
La caracterización de los dispositivos VCSEL LIV requiere aplicar barridos de corriente controlados, al tiempo que se miden simultáneamente la tensión y la salida óptica en múltiples canales. La configuración de ensayo debe permitir suministrar corriente o tensión en canales sincronizados, al tiempo que se miden con precisión la tensión, la corriente y la respuesta del fotodetector, con el fin de captar el comportamiento del dispositivo en condiciones de funcionamiento variables.
El proceso de medición consiste en variar la corriente de excitación del VCSEL mientras se registran la tensión directa y la potencia óptica emitida en cada paso. La precisión de los resultados depende de un funcionamiento multicanal sincronizado, de una configuración adecuada del rango de medición y de la capacidad de captar pequeñas variaciones en la salida óptica a lo largo de un amplio rango dinámico para generar las curvas LIV y de eficiencia de pendiente. El sistema de medición también debe mantener un bajo nivel de ruido y una sincronización constante para detectar no linealidades, como los saltos, que pueden afectar a la estabilidad óptica y al rendimiento del dispositivo.
Solución de caracterización de VCSEL LIV
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B2912C Unidad de medición/fuente de precisión (2 canales, 10 fA)
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B2902C Fuente de precisión / Unidad de medida (2 canales, 100 fA)
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Recursos adicionales para la caracterización de VCSEL LIV
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