Cómo caracterizar el rendimiento de los LIV VCSEL para la detección 3D

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Realizar una caracterización rápida y precisa del LIV de VCSEL

La caracterización de los dispositivos VCSEL LIV requiere aplicar barridos de corriente controlados, al tiempo que se miden simultáneamente la tensión y la salida óptica en múltiples canales. La configuración de ensayo debe permitir suministrar corriente o tensión en canales sincronizados, al tiempo que se miden con precisión la tensión, la corriente y la respuesta del fotodetector, con el fin de captar el comportamiento del dispositivo en condiciones de funcionamiento variables.

El proceso de medición consiste en variar la corriente de excitación del VCSEL mientras se registran la tensión directa y la potencia óptica emitida en cada paso. La precisión de los resultados depende de un funcionamiento multicanal sincronizado, de una configuración adecuada del rango de medición y de la capacidad de captar pequeñas variaciones en la salida óptica a lo largo de un amplio rango dinámico para generar las curvas LIV y de eficiencia de pendiente. El sistema de medición también debe mantener un bajo nivel de ruido y una sincronización constante para detectar no linealidades, como los saltos, que pueden afectar a la estabilidad óptica y al rendimiento del dispositivo.

Solución de caracterización de VCSEL LIV

La caracterización de la curva LIV de los VCSEL requiere el suministro simultáneo de corriente y la realización de mediciones sincronizadas de tensión y señal óptica en múltiples canales. La solución integra unidades de medida y fuente de doble canal capaces de suministrar corriente y tensión con precisión, además de ofrecer un rendimiento de medición de alta resolución. Admite operaciones de barrido a alta velocidad y corriente pulsada, lo que permite una caracterización precisa de la curva LIV al tiempo que minimiza los efectos de autocalentamiento durante las pruebas. El sistema permite barridos de corriente automatizados, disparo sincronizado, visualización de gráficos en tiempo real y registro de datos a través de interfaces gráficas intuitivas. Entre sus capacidades adicionales se incluyen un rendimiento de medición de bajo ruido para detectar no linealidades en la curva LIV y variaciones en la eficiencia de la pendiente, protección contra el cumplimiento de especificaciones para evitar daños en los dispositivos, y opciones flexibles de control por software basadas en SCPI para la automatización, lo que permite una caracterización eficiente y repetible de los VCSEL en entornos de laboratorio y de producción.
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