Cómo mejorar las pruebas de fiabilidad de los circuitos CMOS

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Mejora de la caracterización de la fiabilidad de los circuitos CMOS

Advanced Las tecnologías de semiconductores de óxido metálico complementarios (CMOS) siguen reduciéndose a geometrías de dispositivos cada vez más pequeñas, lo que aumenta la intensidad del campo eléctrico y la densidad de corriente, factores que pueden acortar la vida útil de los dispositivos. Los ingenieros deben evaluar la integridad del dieléctrico de la puerta, los efectos de portadores calientes (HCI), la inestabilidad de la temperatura de polarización (BTI) y la electromigración (EM) para garantizar la fiabilidad a largo plazo.

La evaluación de la fiabilidad de los circuitos CMOS requiere múltiples técnicas de estrés y medición, entre las que se incluyen los ensayos de ruptura dieléctrica, la caracterización «estrés-medición-estrés», la medición de la capacitancia y los ensayos de fiabilidad de las interconexiones. Para lograr una estimación precisa de la vida útil es necesario minimizar las interrupciones del estrés, admitir condiciones de estrés tanto de corriente continua como de corriente alterna y simplificar los complejos flujos de trabajo de los ensayos de fiabilidad.

Solución integral para pruebas de fiabilidad de circuitos CMOS

La evaluación de la fiabilidad de los circuitos CMOS requiere una solución de medición capaz de realizar múltiples pruebas de fiabilidad, minimizando al mismo tiempo la complejidad de la configuración y mejorando la precisión de la medición. El analizador de parámetros de dispositivos semiconductores B1500A de Keysight responde a estos requisitos al combinar unidades de fuente y monitor de precisión (SMU), generación de formas de onda ultrarrápida, medición de capacitancia y bibliotecas de pruebas de fiabilidad listas para usar en una única plataforma modular. Su arquitectura flexible permite realizar pruebas de integridad del dieléctrico de puerta, HCI, BTI y electromigración, mientras que el software EasyEXPERT simplifica la configuración de las pruebas gracias a sus bibliotecas de aplicaciones integradas y al análisis automatizado. En conjunto, estas capacidades ayudan a los ingenieros a optimizar la caracterización de la fiabilidad, mejorar la repetibilidad de las mediciones y estimar con precisión la vida útil de los dispositivos.
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