Comment améliorer les tests de fiabilité des circuits CMOS

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Améliorer la caractérisation de la fiabilité des circuits CMOS

Advanced Les technologies CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) continuent d’évoluer vers des géométries de dispositifs de plus en plus petites, ce qui augmente l’intensité du champ électrique et la densité de courant, deux facteurs susceptibles de réduire la durée de vie des dispositifs. Les ingénieurs doivent évaluer l’intégrité du diélectrique de grille, les effets des porteurs chauds (HCI), l’instabilité de polarisation en fonction de la température (BTI) et l’électromigration (EM) afin de garantir une fiabilité à long terme.

L'évaluation de la fiabilité des circuits CMOS nécessite le recours à plusieurs techniques de mise sous contrainte et de mesure, notamment les essais de claquage diélectrique, la caractérisation « contrainte-mesure-contrainte », la mesure de la capacité et les essais de fiabilité des interconnexions. Pour obtenir une estimation précise de la durée de vie, il est essentiel de réduire au minimum les interruptions de contrainte, de prendre en charge à la fois les conditions de contrainte en courant continu et en courant alternatif, et de simplifier les processus complexes des essais de fiabilité.

Solution complète de tests de fiabilité des circuits CMOS

L'évaluation de la fiabilité des circuits CMOS nécessite une solution de mesure capable d'effectuer plusieurs tests de fiabilité tout en réduisant au minimum la complexité de la configuration et en améliorant la précision des mesures. L'analyseur de paramètres de dispositifs semi-conducteurs B1500A de Keysight répond à ces exigences en combinant des unités de source/moniteur (SMU) de précision, une génération de formes d'onde ultra-rapide, la mesure de capacité et des bibliothèques de tests de fiabilité prêtes à l'emploi sur une seule plateforme modulaire. Son architecture flexible prend en charge les tests d’intégrité du diélectrique de grille, HCI, BTI et d’électromigration, tandis que le logiciel EasyEXPERT simplifie la configuration des tests grâce à des bibliothèques d’applications intégrées et à une analyse automatisée. Ensemble, ces fonctionnalités aident les ingénieurs à rationaliser la caractérisation de la fiabilité, à améliorer la répétabilité des mesures et à estimer avec précision la durée de vie des composants.
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B1500A Analyseur de paramètres de dispositifs à semi-conducteurs

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