Come migliorare i test di affidabilità dei circuiti CMOS

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Miglioramento della caratterizzazione dell'affidabilità dei circuiti CMOS

Advanced Le tecnologie CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) continuano a evolversi verso geometrie dei dispositivi sempre più piccole, aumentando l'intensità del campo elettrico e la densità di corrente, fattori che possono ridurre la durata dei dispositivi. Gli ingegneri devono valutare l'integrità del dielettrico del gate, gli effetti dei portatori caldi (HCI), l'instabilità della temperatura di polarizzazione (BTI) e l'elettromigrazione (EM) per garantire l'affidabilità a lungo termine.

La valutazione dell'affidabilità dei circuiti CMOS richiede l'impiego di diverse tecniche di sollecitazione e misurazione, tra cui i test di rottura dielettrica, la caratterizzazione "stress-measure-stress", la misurazione della capacità e i test di affidabilità delle interconnessioni. Per ottenere una stima accurata della durata di vita è necessario ridurre al minimo le interruzioni della sollecitazione, supportare condizioni di sollecitazione sia in corrente continua che in corrente alternata e semplificare i complessi flussi di lavoro dei test di affidabilità.

Soluzione completa per i test di affidabilità dei circuiti CMOS

La valutazione dell’affidabilità dei dispositivi CMOS richiede una soluzione di misura in grado di eseguire molteplici test di affidabilità, riducendo al minimo la complessità della configurazione e migliorando la precisione di misura. L’analizzatore di parametri dei dispositivi a semiconduttori Keysight B1500A soddisfa questi requisiti combinando unità sorgente/monitor (SMU) di precisione, generazione ultraveloce di forme d’onda, misura della capacità e librerie di test di affidabilità pronte all’uso su un’unica piattaforma modulare. La sua architettura flessibile supporta i test di integrità del dielettrico di gate, HCI, BTI ed elettromigrazione, mentre il software EasyEXPERT semplifica la configurazione dei test grazie alle librerie di applicazioni integrate e all’analisi automatizzata. Insieme, queste funzionalità aiutano gli ingegneri a ottimizzare la caratterizzazione dell’affidabilità, a migliorare la ripetibilità delle misurazioni e a stimare con precisione la durata di vita dei dispositivi.
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B1500A Analizzatore dei parametri dei dispositivi a semiconduttore

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