Como melhorar os testes de confiabilidade de CMOS

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Aprimorar a caracterização da confiabilidade do CMOS

As tecnologias avançadas de semicondutores complementares de óxido metálico (CMOS) continuam a evoluir para geometrias de dispositivos cada vez menores, aumentando a intensidade do campo elétrico e a densidade de corrente, o que pode reduzir a vida útil dos dispositivos. Os engenheiros devem avaliar a integridade do dielétrico da porta, os efeitos de portadores quentes (HCI), a instabilidade de polarização em função da temperatura (BTI) e a eletromigração (EM) para garantir a confiabilidade a longo prazo.

A avaliação da confiabilidade de CMOS requer diversas técnicas de aplicação de estresse e medição, incluindo testes de ruptura dielétrica, caracterização do ciclo “estresse-medição-estresse”, medição de capacitância e testes de confiabilidade de interconexões. Para se obter uma estimativa precisa da vida útil, é necessário minimizar as interrupções no estresse, oferecer suporte a condições de estresse tanto em corrente contínua (CC) quanto em corrente alternada (CA) e simplificar os complexos fluxos de trabalho dos testes de confiabilidade.

Solução abrangente para testes de confiabilidade de CMOS

A avaliação da confiabilidade de CMOS requer uma solução de medição capaz de realizar diversos testes de confiabilidade, minimizando a complexidade da configuração e melhorando a precisão da medição. O Analisador de Parâmetros de Dispositivos Semicondutores B1500A da Keysight atende a esses requisitos ao combinar unidades de fonte/monitor de precisão (SMUs), geração ultrarrápida de formas de onda, medição de capacitância e bibliotecas de testes de confiabilidade prontas para uso em uma única plataforma modular. Sua arquitetura flexível oferece suporte a testes de integridade do dielétrico de porta, HCI, BTI e eletromigração, enquanto o software EasyEXPERT simplifica a configuração dos testes com bibliotecas de aplicativos integradas e análise automatizada. Juntas, essas capacidades ajudam os engenheiros a otimizar a caracterização de confiabilidade, melhorar a repetibilidade das medições e estimar com precisão a vida útil dos dispositivos.
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