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以準確且可重複的時序協調觸發、干擾產生和裝置互動。
Memory
64 GB
產品類型
Embedded security testbench, Glitch pattern generator
Technology
Device Security
利用高速 PXIe 架構進行更快、更精確的安全性測試。新一代嵌入式安全測試平台將最先進的 PXI 技術應用於旁通道分析 (SCA) 和故障注入 (FI) 測試,提供無與倫比的性能、彈性和可靠性。此尖端平台專為安全專業人員設計,為未來而打造,能夠可靠地測試最現代化和高速的目標。
DS1070A 提供進階錯誤注入測試所需的波形產生功能,可對錯誤時序和訊號特性進行精確控制,以進行可重複的安全性評估。
DS1070A 提供以下功能:
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嵌入式安全性測試平台提供了一個統一的平台,可用於對嵌入式裝置執行錯誤注入測試。它使安全團隊能夠協調識別漏洞和驗證安全對策所需的觸發、干擾產生、目標通訊和自動化工作流程。
成功的錯誤注入測試取決於精確的時脈、可重複性以及多個硬體元件之間的協調。專用測試平台有助於同步觸發、干擾產生、通訊介面和量測設備,以提高攻擊成功率和測試效率。
該平台可進行配置以支援各種錯誤注入方法,包括:
DS1050A 作為平台的基礎,提供 PXI 機箱與控制器環境,將硬體模組、軟體和儀器整合為一個同步化的故障注入測試系統。
故障注入工具會執行特定動作,例如產生突波或注入電磁脈衝。而測試平台則作為集中式平台,負責同步所有故障注入設備、控制測試執行並自動化攻擊工作流程。
可以。模組化 PXI 架構允許使用者從當前所需的效能開始,並隨著測試需求的演進來增加額外的模組。
不用。模組化設計讓您可以先從 DS1050A 核心平台開始,並隨著測試需求的增長,再添加 DS1060A 模式觸發產生器、DS1070A 突波模式產生器或 DS1071A 數位 I/O 模組。
該平台支援對各種嵌入式裝置進行故障注入評估,包括:
許多成功的故障注入攻擊都取決於在極短的時間視窗內注入故障。精確的觸發有助於確保故障在預期的時刻發生,進而提高可重複性與攻擊的有效性。
同步化確保觸發、故障產生、通訊和量測以協調一致的方式進行。這能提高可重複性、減少設置變異性,並增強對測試結果的信心。
PXI(PCI eXtensions for Instrumentation)是一種模組化測試與量測平台,允許多個儀器在單一同步系統中運行。PXI 不需連接分散的獨立儀器,而是在共同架構中整合了觸發、控制、資料擷取和處理功能。
對於故障注入測試而言,這實現了觸發產生器、突波產生器、數位 I/O 模組與軟體自動化工具之間的精確協調。其結果是提高了時間精確度、增強了可重複性,並具備隨著測試需求演進而擴充系統的靈活性。
嵌入式安全性測試平台充當故障注入環境的中央樞紐,連接觸發系統、突波產生器、數位介面、量測硬體與軟體自動化工具。這使工程師能夠從單一整合平台中規劃、執行、自動化和分析故障注入系列測試。