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Coordonner le déclenchement, la génération de glitches et l'interaction entre les périphériques avec une synchronisation précise et reproductible.
Memory
64 GB
Product type
Embedded security testbench, Glitch pattern generator
Technology
Device Security
DS1050A
Le banc d'essai de sécurité embarqué de nouvelle génération intègre un matériel modulaire haute performance pour des tests précis d'analyse des canaux auxiliaires et d'injection de défauts.
Tirez parti de l'architecture PXIe haut débit pour des tests de sécurité plus rapides et plus précis. Le banc d'essai de sécurité embarqué de nouvelle génération apporte la technologie PXI de pointe aux tests d'analyse des canaux latéraux (SCA) et d'injection de défauts (FI), offrant des performances, une flexibilité et une fiabilité inégalées. Conçue pour les professionnels de la sécurité, cette plateforme de pointe est construite pour l'avenir et capable de tester de manière fiable les cibles les plus modernes et les plus rapides.
DS1070A
Le générateur de signaux de perturbation DS1070A permet de générer des formes d'onde précises et d'assurer un contrôle minutieux de la synchronisation pour les tests avancés d'injection de défauts. Alliant la génération de signaux à haute vitesse à un traitement basé sur un FPGA, il permet de mener des expériences reproductibles d'injection de défauts de tension, d'horloge, électromagnétiques (EM) et laser afin de mettre en évidence les vulnérabilités des dispositifs embarqués.
Le DS1070A offre les capacités de génération de formes d'onde nécessaires aux tests avancés d'injection de défauts, permettant ainsi un contrôle précis du moment d'apparition des défauts et des caractéristiques des signaux, pour des évaluations de sécurité reproductibles.
Le DS1070A offre les fonctionnalités suivantes :
Page d'accueil
Webinaire
Page d'accueil
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Le banc d'essai de sécurité embarquée offre une plateforme unifiée permettant de mener des campagnes d'injection de défauts sur des appareils embarqués. Il permet aux équipes de sécurité de coordonner le déclenchement, la génération de perturbations, la communication avec les cibles et les flux de travail automatisés nécessaires pour identifier les vulnérabilités et valider les contre-mesures de sécurité.
La réussite des tests d'injection de défauts repose sur une synchronisation précise, la répétabilité et la coordination entre plusieurs composants matériels. Un banc d'essai dédié permet de synchroniser le déclenchement, la génération de glitches, les interfaces de communication et les équipements de mesure afin d'améliorer les taux de réussite des attaques et l'efficacité des tests.
La plateforme peut être configurée pour prendre en charge diverses méthodologies d'injection de défauts, notamment :
Le DS1050A constitue la base de la plateforme ; il fournit le châssis PXI et l'environnement de contrôle qui intègrent les modules matériels, les logiciels et les instruments au sein d'un système synchronisé de tests par injection de défauts.
Un outil d'injection de défauts effectue une action spécifique, telle que la génération d'une perturbation ou l'injection d'une impulsion électromagnétique. Le banc d'essai sert de plateforme centralisée qui synchronise tous les équipements d'injection de défauts, contrôle l'exécution des tests et automatise les workflows d'attaque.
Oui. L'architecture modulaire PXI permet aux utilisateurs de commencer avec les fonctionnalités dont ils ont besoin aujourd'hui, puis d'ajouter des modules supplémentaires à mesure que leurs besoins en matière de tests évoluent.
Non. La conception modulaire vous permet de commencer avec la plate-forme centrale DS1050A, puis d'y ajouter le générateur de signaux de déclenchement par motif DS1060A, le générateur de signaux de glitch DS1070A ou le module d'E/S numériques DS1071A à mesure que vos besoins en matière de tests évoluent.
La plateforme prend en charge les évaluations par injection de défauts sur une large gamme d'appareils embarqués, notamment :
De nombreuses attaques par injection de défauts réussies reposent sur l'injection d'un défaut dans une fenêtre temporelle très étroite. Un déclenchement précis permet de garantir que les défauts se produisent au moment prévu, ce qui améliore la répétabilité et l'efficacité de l'attaque.
La synchronisation garantit que le déclenchement, la génération de défauts, la communication et la mesure s'effectuent de manière coordonnée. Cela améliore la répétabilité, réduit la variabilité liée à la configuration et renforce la fiabilité des résultats des tests.
Le PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) est une plateforme modulaire de test et de mesure qui permet à plusieurs instruments de fonctionner au sein d'un même système synchronisé. Au lieu de connecter des instruments autonomes séparés, le PXI intègre le déclenchement, le contrôle, l'acquisition de données et le traitement au sein d'une architecture commune.
Pour les tests par injection de défauts, cela permet une coordination précise entre les générateurs de déclenchement, les générateurs de glitch, les modules d'E/S numériques et les outils logiciels d'automatisation. Il en résulte une meilleure précision de synchronisation, une plus grande répétabilité et la flexibilité nécessaire pour faire évoluer le système au fur et à mesure que les exigences de test évoluent.
Le banc d'essai de sécurité embarquée fait office de plaque tournante d'un environnement d'injection de défauts, reliant les systèmes de déclenchement, les générateurs de glitches, les interfaces numériques, le matériel de mesure et les outils logiciels d'automatisation. Cela permet aux ingénieurs de planifier, d'exécuter, d'automatiser et d'analyser des campagnes d'injection de défauts à partir d'une seule et même plateforme intégrée.