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Coordinare l'attivazione, la generazione di glitch e l'interazione tra dispositivi con una temporizzazione precisa e ripetibile.
Memory
64 GB
Product type
Embedded security testbench, Glitch pattern generator
Technology
Device Security
DS1050A
Il banco di prova di sicurezza integrato di nuova generazione integra hardware modulare ad alte prestazioni per test precisi di analisi dei canali laterali e iniezione di guasti.
Sfruttate l'architettura PXIe ad alta velocità per test di sicurezza più rapidi e precisi. Il banco di prova di sicurezza integrato di nuova generazione porta la tecnologia PXI all'avanguardia nei test di analisi dei canali laterali (SCA) e di iniezione di guasti (FI), offrendo prestazioni, flessibilità e affidabilità senza pari. Progettata per i professionisti della sicurezza, questa piattaforma all'avanguardia è costruita per il futuro, in grado di testare in modo affidabile gli obiettivi più moderni e ad alta velocità.
DS1070A
Il generatore di pattern di glitch DS1070A garantisce una generazione precisa delle forme d'onda e un controllo accurato della temporizzazione per test avanzati di iniezione di guasti. Combinando la generazione di segnali ad alta velocità con l'elaborazione basata su FPGA, consente di eseguire esperimenti ripetibili di iniezione di guasti relativi a tensione, clock, campi elettromagnetici (EM) e laser, al fine di individuare le vulnerabilità nei dispositivi embedded.
Il DS1070A offre le funzionalità di generazione di forme d'onda necessarie per i test avanzati di iniezione di guasti, consentendo un controllo preciso della temporizzazione dei guasti e delle caratteristiche del segnale per valutazioni di sicurezza ripetibili.
Il modello DS1070A offre le seguenti caratteristiche:
Pagina di destinazione
Webinar
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L'Embedded Security Testbench offre una piattaforma unificata per l'esecuzione di campagne di iniezione di errori su dispositivi embedded. Consente ai team di sicurezza di coordinare l'attivazione, la generazione di glitch, la comunicazione con i dispositivi di destinazione e i flussi di lavoro automatizzati necessari per identificare le vulnerabilità e verificare l'efficacia delle contromisure di sicurezza.
Il successo dei test di iniezione di errori dipende dalla precisione temporale, dalla ripetibilità e dal coordinamento tra più componenti hardware. Un banco di prova dedicato aiuta a sincronizzare l'attivazione, la generazione di glitch, le interfacce di comunicazione e le apparecchiature di misurazione, al fine di migliorare i tassi di successo degli attacchi e l'efficienza dei test.
La piattaforma può essere configurata per supportare una varietà di metodologie di iniezione di guasti, tra cui:
Il DS1050A costituisce la base della piattaforma, fornendo lo chassis PXI e l'ambiente di controllo che integrano moduli hardware, software e strumentazione in un sistema sincronizzato di test con iniezione di guasti.
Uno strumento di iniezione di guasti esegue un'azione specifica, come la generazione di un glitch o l'iniezione di un impulso elettromagnetico. Il banco di prova funge da piattaforma centralizzata che sincronizza tutte le apparecchiature di iniezione di guasti, controlla l'esecuzione dei test e automatizza i flussi di lavoro relativi agli attacchi.
Sì. L'architettura modulare PXI consente agli utenti di partire dalle funzionalità necessarie oggi e di aggiungere ulteriori moduli man mano che le esigenze di collaudo si evolvono.
No. Il design modulare consente di partire dalla piattaforma principale DS1050A e di aggiungere, man mano che le esigenze di test aumentano, il generatore di trigger basato su pattern DS1060A, il generatore di pattern di glitch DS1070A o il modulo I/O digitale DS1071A.
La piattaforma supporta valutazioni con iniezione di errori su un'ampia gamma di dispositivi embedded, tra cui:
Molti attacchi di iniezione di errori riusciti si basano sull'iniezione di un errore in una finestra temporale molto ristretta. Un trigger accurato contribuisce a garantire che gli errori si verifichino nel momento previsto, migliorando la ripetibilità e l'efficacia dell'attacco.
La sincronizzazione garantisce che l'attivazione, la generazione dei guasti, la comunicazione e la misurazione avvengano in modo coordinato. Ciò migliora la ripetibilità, riduce la variabilità della configurazione e aumenta l'affidabilità dei risultati dei test.
PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) è una piattaforma modulare di test e misura che consente a più strumenti di operare all’interno di un unico sistema sincronizzato. Anziché collegare strumenti autonomi separati, PXI integra il triggering, il controllo, l’acquisizione dei dati e l’elaborazione all’interno di un’architettura comune.
Per i test con iniezione di errori, ciò consente un coordinamento preciso tra generatori di trigger, generatori di glitch, moduli I/O digitali e strumenti software di automazione. Il risultato è una maggiore precisione temporale, una migliore ripetibilità e la flessibilità necessaria per espandere il sistema man mano che i requisiti di test evolvono.
L'Embedded Security Testbench funge da hub centrale di un ambiente di iniezione di guasti, collegando sistemi di attivazione, generatori di glitch, interfacce digitali, hardware di misurazione e strumenti software di automazione. Ciò consente agli ingegneri di pianificare, eseguire, automatizzare e analizzare campagne di iniezione di guasti da un'unica piattaforma integrata.