DS1050A

Führen Sie Fehlereinspeisungskampagnen präzise und kontrolliert durch.

Die Embedded Security Testbench bietet eine einheitliche Plattform für die Planung, Durchführung und Skalierung von Fehlerinjektionskampagnen. Basierend auf einer modularen PXI-Architektur vereint sie Triggerung, Wellenformgenerierung, digitale Steuerung und Systemsynchronisation in einer einzigen integrierten Umgebung und ermöglicht Sicherheitsteams so die Durchführung präziser und wiederholbarer Fehlerinjektionstests an einer Vielzahl von Geräten.
 
Erfolgreiche Fehlereinschleusungsangriffe erfordern präzises Timing, kontrollierte Ausführung und die Koordination mehrerer Hardwarekomponenten. Die Testumgebung erfüllt diese Anforderungen durch eine gemeinsame Plattform, die Fehlereinschleusungsgeräte, Zielkommunikation, Messhardware und Softwareautomatisierung synchronisiert. Dadurch können Ingenieure Fehler präzise zeitlich steuern, komplexe Angriffsszenarien kontrollieren und Experimente auf verschiedenen Geräten konsistent wiederholen.
 
Die modulare Architektur ermöglicht es Unternehmen, mit den für eine bestimmte Angriffsmethodik erforderlichen Funktionen zu beginnen und diese im Laufe der Zeit an die sich ändernden Testanforderungen anzupassen. Zusätzliche PXI-Module können hinzugefügt werden, um erweiterte Triggerfunktionen, Glitch-Generierung, Protokollinteraktion und digitale Steuerung zu unterstützen, ohne die zugrunde liegende Plattform zu verändern.
 
Zusammen bieten der DS1050A Embedded Security Testbench, der DS1060A Pattern-Based Trigger Generator, der DS1070A Glitch Pattern Generator und die DS1071A Digital I/O-Lösung eine skalierbare Grundlage für Workflows zur Fehlerinjektion in Spannung, Takt, elektromagnetischen Feldern und Lasern. So können Sicherheitsteams Schwachstellen aufdecken und Gegenmaßnahmen zuverlässig validieren.

Präzise Fehlereinspeisung aktivieren

Koordiniertes Auslösen, Glitch-Erzeugung und Geräteinteraktion mit präziser und wiederholbarer Zeitsteuerung.

Erstellen Sie wiederholbare Angriffskampagnen

Führe komplexe Fehlereinspeisungsexperimente konsistent auf mehreren Geräten und Testiterationen durch.

Skalierung mit Testanforderungen

Erweitern Sie die Funktionalitäten durch modulare PXI-Instrumentierung, ohne die Kernplattform zu ersetzen.

Unterstützung mehrerer Fehlereinspeisungstechniken

Eine gemeinsame Grundlage für Arbeitsabläufe zur Fehlereinspeisung in Spannung, Takt, elektromagnetischen Feldern und Lasern schaffen.
Produktbild
  • Memory

    64 GB

  • Product type

    Embedded security testbench, Glitch pattern generator

  • Technology

    Device Security

Häufig gestellte Fragen