DS1050A

정밀하고 체계적인 방식으로 결함 주입 캠페인을 실행하십시오

임베디드 보안 테스트벤치는 결함 주입 캠페인의 계획, 실행 및 확장을 위한 통합 플랫폼을 제공합니다. 모듈식 PXI 아키텍처를 기반으로 구축된 이 플랫폼은 트리거링, 파형 생성, 디지털 제어 및 시스템 동기화 기능을 단일 통합 환경 내에서 결합하여, 보안 팀이 다양한 기기에 걸쳐 정밀하고 재현 가능한 결함 주입 테스트를 수행할 수 있도록 지원합니다.
 
성공적인 결함 주입 공격은 정확한 타이밍, 제어된 실행, 그리고 여러 하드웨어 구성 요소를 조율할 수 있는 능력에 달려 있습니다. 테스트벤치는 결함 주입 장비, 대상 통신, 측정 하드웨어 및 소프트웨어 자동화를 동기화하는 공통 플랫폼을 제공함으로써 이러한 요구 사항을 충족합니다. 이를 통해 엔지니어들은 정확한 타이밍으로 결함을 주입하고, 복잡한 공격 시나리오를 제어하며, 여러 장치에서 일관되게 실험을 반복할 수 있습니다.
 
모듈식 아키텍처를 통해 조직은 특정 공격 기법에 필요한 기능부터 시작하여, 테스트 요구 사항이 변화함에 따라 점차 기능을 확장할 수 있습니다. 기본 플랫폼을 수정하지 않고도 추가적인 PXI 모듈을 장착하여 고급 트리거링, 글리치 생성, 프로토콜 상호 작용 및 디지털 제어를 지원할 수 있습니다.
 
DS1050A 임베디드 보안 테스트벤치, DS1060A 패턴 기반 트리거 발생기, DS1070A 글리치 패턴 발생기, DS1071A 디지털 I/O 솔루션을 함께 사용하면 전압, 클럭, 전자기 및 레이저 결함 주입 워크플로우를 위한 확장 가능한 기반을 마련할 수 있어, 보안 팀이 취약점을 발견하고 대응 조치를 확실하게 검증할 수 있도록 지원합니다.

정밀 오류 주입 활성화

정확하고 재현 가능한 타이밍을 바탕으로 트리거링, 글리치 생성 및 장치 간 상호작용을 조정합니다.

반복 가능한 공격 캠페인 구축

여러 장치와 테스트 반복 과정 전반에 걸쳐 복잡한 결함 주입 실험을 일관되게 수행합니다.

테스트 요구 사항에 따른 확장성

핵심 플랫폼을 교체하지 않고도 모듈형 PXI 계측 장비를 통해 기능을 확장할 수 있습니다.

다양한 결함 주입 기법 지원

전압, 클럭, 전자기 및 레이저 오류 주입 워크플로우를 위한 공통 기반을 제공합니다.
제품 이미지
  • Memory

    64 GB

  • Product type

    Embedded security testbench, Glitch pattern generator

  • Technology

    Device Security

자주 묻는 질문