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정확하고 반복 가능한 타이밍으로 트리거링, 글리치 생성 및 디바이스 상호 작용을 조율합니다.
Memory
64 GB
Product type
Embedded security testbench, Glitch pattern generator
Technology
Device Security
DS1050A
차세대 임베디드 보안 테스트 벤치는 모듈형 고성능 하드웨어를 통합하여 정밀한 사이드 채널 분석 및 결함 주입 테스트를 수행합니다.
고속 PXIe 아키텍처를 활용하여 더 빠르고 정밀한 보안 테스트를 수행하십시오. 차세대 임베디드 보안 테스트 벤치는 최첨단 PXI 기술을 사이드 채널 분석(SCA) 및 결함 주입(FI) 테스트에 적용하여 탁월한 성능, 유연성 및 신뢰성을 제공합니다. 보안 전문가를 위해 설계된 이 최첨단 플랫폼은 미래를 위해 구축되었으며, 가장 현대적이고 고속의 타겟을 안정적으로 테스트할 수 있습니다.
DS1070A
DS1070A 글리치 패턴 제너레이터는 고급 결함 주입 테스트를 위한 정밀한 파형 생성 및 타이밍 제어 기능을 제공합니다. 고속 신호 생성과 FPGA 기반 처리를 결합하여 임베디드 디바이스의 취약성을 발견하기 위한 반복 가능한 전압, 클록, 전자기(EM) 및 레이저 결함 주입 실험을 가능하게 합니다.
DS1070A는 고급 결함 주입 테스트에 필요한 파형 생성 기능을 제공하여, 반복 가능한 보안 평가를 위해 결함 타이밍과 신호 특성을 정밀하게 제어할 수 있도록 지원합니다.
DS1070A는 다음과 같은 기능을 제공합니다:
랜딩 페이지
웨비나
랜딩 페이지
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
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테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
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임베디드 보안 테스트벤치는 임베디드 디바이스를 대상으로 결함 주입 캠페인을 실행하기 위한 통합 플랫폼을 제공합니다. 보안 팀이 취약성을 식별하고 보안 대책을 검증하는 데 필요한 트리거링, 글리치 생성, 타겟 통신, 자동화 워크플로를 조율할 수 있도록 지원합니다.
성공적인 결함 주입 테스트는 정밀한 타이밍, 반복성, 그리고 여러 하드웨어 구성 요소 간의 긴밀한 조율에 좌우됩니다. 전용 테스트벤치는 트리거링, 글리치 생성, 통신 인터페이스, 측정 장비를 동기화하여 공격 성공률과 테스트 효율성을 향상시킵니다.
이 플랫폼은 다음과 같은 다양한 결함 주입 방법론을 지원하도록 구성할 수 있습니다.
DS1050A는 플랫폼의 기반 역할을 하며, 하드웨어 모듈, 소프트웨어, 계측기를 동기화된 결함 주입 테스트 시스템으로 통합하는 PXI 섀시 및 컨트롤러 환경을 제공합니다.
결함 주입 도구는 글리치 생성 또는 전자기 펄스 주입과 같은 특정 작업을 수행합니다. 반면 테스트벤치는 모든 결함 주입 장비를 동기화하고, 테스트 실행을 제어하며, 공격 워크플로를 자동화하는 중앙 집중식 플랫폼 역할을 합니다.
예. 모듈형 PXI 아키텍처를 통해 사용자는 현재 필요한 기능으로 시작하고 테스트 요구사항이 진화함에 따라 추가 모듈을 장착할 수 있습니다.
아니요. 모듈형 설계를 통해 DS1050A 코어 플랫폼으로 시작하여 테스트 요구사항이 증가함에 따라 DS1060A 패턴 기반 트리거 생성기, DS1070A 글리치 패턴 생성기 또는 DS1071A 디지털 I/O 모듈을 추가할 수 있습니다.
이 플랫폼은 다음과 같은 다양한 임베디드 기기에서 결함 주입 평가를 지원합니다.
성공적인 많은 결함 주입 공격은 매우 짧은 타이밍 윈도우 내에 결함을 주입하는 것에 좌우됩니다. 정확한 트리거링은 의도한 순간에 결함이 발생하도록 보장하여 반복성과 공격 효과를 향상시킵니다.
동기화는 트리거링, 결함 생성, 통신 및 측정이 조화롭게 이루어지도록 보장합니다. 이를 통해 반복성이 향상되고, 설정 가변성이 줄어들며, 테스트 결과에 대한 신뢰도가 높아집니다.
PXI(PCI eXtensions for Instrumentation)는 단일 동기화된 시스템 내에서 여러 계측기가 작동할 수 있도록 지원하는 모듈형 테스트 및 측정 플랫폼입니다. 별도의 독립형 계측기를 연결하는 대신, PXI는 공통 아키텍처 내에서 트리거링, 제어, 데이터 수집 및 처리를 통합합니다.
결함 주입 테스트의 경우, 이를 통해 트리거 생성기, 글리치 생성기, 디지털 I/O 모듈 및 소프트웨어 자동화 도구 간의 정밀한 조율이 가능해집니다. 그 결과 타이밍 정확도가 향상되고, 반복성이 높아지며, 테스트 요구사항의 변화에 따라 시스템을 확장할 수 있는 유연성이 제공됩니다.
임베디드 보안 테스트벤치는 트리거링 시스템, 글리치 생성기, 디지털 인터페이스, 측정 하드웨어 및 소프트웨어 자동화 도구를 연결하는 결함 주입 환경의 중앙 허브 역할을 합니다. 이를 통해 엔지니어는 단일 통합 플랫폼에서 결함 주입 캠페인을 계획, 실행, 자동화 및 분석할 수 있습니다.