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제품 요구 사항을 지원하는 추가 콘텐츠
정확하고 재현 가능한 타이밍을 바탕으로 트리거링, 글리치 생성 및 장치 간 상호작용을 조정합니다.
Memory
64 GB
Product type
Embedded security testbench, Glitch pattern generator
Technology
Device Security
DS1050A
차세대 임베디드 보안 테스트 벤치는 모듈형 고성능 하드웨어를 통합하여 정밀한 사이드 채널 분석 및 결함 주입 테스트를 수행합니다.
고속 PXIe 아키텍처를 활용하여 더 빠르고 정밀한 보안 테스트를 수행하십시오. 차세대 임베디드 보안 테스트 벤치는 최첨단 PXI 기술을 사이드 채널 분석(SCA) 및 결함 주입(FI) 테스트에 적용하여 탁월한 성능, 유연성 및 신뢰성을 제공합니다. 보안 전문가를 위해 설계된 이 최첨단 플랫폼은 미래를 위해 구축되었으며, 가장 현대적이고 고속의 타겟을 안정적으로 테스트할 수 있습니다.
DS1070A
DS1070A 글리치 패턴 발생기는 고급 결함 주입 테스트를 위한 정밀한 파형 생성 및 타이밍 제어 기능을 제공합니다. 고속 신호 생성 기능과 FPGA 기반 처리를 결합하여, 임베디드 장치의 취약점을 파악하기 위한 전압, 클럭, 전자기(EM), 레이저 결함 주입 실험을 반복적으로 수행할 수 있게 해줍니다.
DS1070A는 고급 오류 주입 테스트에 필요한 파형 생성 기능을 제공하여, 오류 발생 타이밍과 신호 특성을 정밀하게 제어함으로써 재현성 있는 보안 평가를 가능하게 합니다.
DS1070A는 다음과 같은 기능을 제공합니다:
랜딩 페이지
웨비나
랜딩 페이지
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예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
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테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
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임베디드 보안 테스트벤치는 임베디드 장치에 대한 결함 주입 테스트를 수행하기 위한 통합 플랫폼을 제공합니다. 이를 통해 보안 팀은 취약점을 식별하고 보안 대책을 검증하는 데 필요한 트리거링, 글리치 생성, 대상 장치와의 통신 및 자동화 워크플로를 효율적으로 조정할 수 있습니다.
성공적인 결함 주입 테스트는 정확한 타이밍, 재현성, 그리고 여러 하드웨어 구성 요소 간의 조화에 달려 있습니다. 전용 테스트벤치를 사용하면 트리거링, 글리치 생성, 통신 인터페이스 및 측정 장비를 동기화하여 공격 성공률과 테스트 효율성을 높일 수 있습니다.
이 플랫폼은 다음과 같은 다양한 오류 주입 기법을 지원하도록 구성할 수 있습니다:
DS1050A는 플랫폼의 기반이 되어, 하드웨어 모듈, 소프트웨어 및 계측 장비를 동기화된 오류 주입 테스트 시스템으로 통합하는 PXI 섀시 및 컨트롤러 환경을 제공합니다.
결함 주입 도구는 글리치 발생이나 전자기 펄스 주입과 같은 특정 작업을 수행합니다. 테스트벤치는 모든 결함 주입 장비를 동기화하고, 테스트 실행을 제어하며, 공격 워크플로를 자동화하는 중앙 집중식 플랫폼 역할을 합니다.
네. 모듈식 PXI 아키텍처를 통해 사용자는 현재 필요한 기능부터 시작하여, 테스트 요구 사항이 변화함에 따라 모듈을 추가할 수 있습니다.
아닙니다. 모듈식 설계 덕분에 DS1050A 코어 플랫폼으로 시작하여, 테스트 요구 사항이 늘어남에 따라 DS1060A 패턴 기반 트리거 발생기, DS1070A 글리치 패턴 발생기 또는 DS1071A 디지털 I/O 모듈을 추가할 수 있습니다.
이 플랫폼은 다음을 포함한 다양한 임베디드 장치에 대한 오류 주입 평가를 지원합니다:
성공적인 오류 주입 공격의 상당수는 매우 좁은 타이밍 창 내에서 오류를 주입하는 데 달려 있습니다. 정확한 트리거링은 오류가 의도한 시점에 발생하도록 보장하여, 재현성과 공격의 효과를 높여줍니다.
동기화는 트리거링, 오류 발생, 통신 및 측정이 조화롭게 이루어지도록 보장합니다. 이를 통해 재현성이 향상되고, 설정 변동성이 줄어들며, 테스트 결과에 대한 신뢰도가 높아집니다.
PXI(PCI eXtensions for Instrumentation)는 여러 계측기를 단일 동기화 시스템 내에서 작동시킬 수 있는 모듈형 테스트 및 계측 플랫폼입니다. PXI는 개별 독립형 계측기를 연결하는 대신, 트리거링, 제어, 데이터 수집 및 처리를 공통 아키텍처 내에 통합합니다.
오류 주입 테스트의 경우, 이를 통해 트리거 발생기, 글리치 발생기, 디지털 I/O 모듈 및 소프트웨어 자동화 도구 간의 정밀한 연동이 가능해집니다. 그 결과, 타이밍 정확도가 향상되고 재현성이 높아지며, 테스트 요구 사항이 변화함에 따라 시스템을 유연하게 확장할 수 있습니다.
임베디드 보안 테스트벤치는 오류 주입 환경의 중심 허브 역할을 하며, 트리거링 시스템, 글리치 발생기, 디지털 인터페이스, 측정 하드웨어 및 소프트웨어 자동화 도구를 연결합니다. 이를 통해 엔지니어들은 단일 통합 플랫폼에서 오류 주입 작업을 계획, 실행, 자동화 및 분석할 수 있습니다.