核心平台
嵌入式安全測試平台建構於一個核心平台之上，該平台將系統整合、控制與運算功能整合至單一且緊密相連的環境中，旨在與您的需求無縫整合並隨之擴展。
此基礎架構確保每台儀器與模組皆能同步運作，從而實現精確的時序控制、可靠的測量結果，以及在複雜的安全測試中具備可重複性的執行能力。隨著測試需求不斷演進，可將額外的 PXI 模組插入同一系統中，而不會中斷現有運作。
這種方法讓團隊能夠從一個重點明確的架構開始，並隨著時間推移逐步擴展，從而建構出一個能適應新用例、新方法論及不同複雜程度的靈活測試環境。
此平台的核心包含兩個主要組件：
- M9046A PXIe 機箱
- M9038A PXIe 嵌入式控制器
測試平台的核心基礎，為所有模組提供電源、散熱及系統整合功能。它建立了一個穩定且可擴展的環境，讓多台儀器能在單一、同步的系統中協同運作。
測試平台的控制中心，提供管理測試執行及進行進階安全分析所需的運算效能。它確保各測試儀器之間能順暢協調，並高效處理測試結果。
各部分如何相互銜接
一套完整的安全測試架構包含四個部分：待測目標裝置、負責供電與同步所有元件的測試平台、針對特定測試方法設計的硬體，以及執行測試計畫的軟體。而整套系統的核心正是 DS1050A——這是所有其他元件皆需連接並依賴的機箱與控制器。
究竟哪些元件會連接至該核心，則取決於您正在進行的測試內容。下方的分頁將逐步介紹可直接連接至 DS1050A 的模組化組件。
- 測試平台架構
- 觸發
- 畫面異常
- 數位 I/O
- 即將推出的模組
PXIe 機箱並非僅支援一種固定配置，而是可同時容納多個模組，而您安裝哪些模組，將決定測試平台的功能範圍。
- 加入一個觸發器產生器，您就能在接收到訊號時精準地觸發。
- 加入一個波形產生器，您就能以精確的時序和振幅來塑造突變聲效。
- 只要添加一個數位 I/O 模組，您就能同步多個通道，以執行複雜的多步驟行銷活動。
這正是該平台具備模組化與可擴充性，而非固定不變的原因：只需更換安裝的 PXI 卡，相同的機箱和控制器即可同時支援側通道分析與故障注入。
團隊可以先從單一測試類型所需的最低配置開始，並在出現新需求時逐步新增模組，無需更換核心元件。
DS1060A 基於模式的觸發器產生器
SCA 與 FI 的精準計時
精確的觸發對於側通道分析（SCA）和故障注入（FI）至關重要。DS1060A 可提供精確且可重複的時序，使測量與注入操作能與被測裝置的行為保持同步。
DS1060A 由 M5200A 數位化器與 DS1003A 數位化器介面組成。此解決方案既可作為獨立示波器運作，亦可根據任務需求執行不同的位元流。其「基於模式的觸發產生器」支援模式驅動式觸發，並提供用於側通道分析工作流程的額外位元流。
關鍵構成要素
M5200A PXIe 數位化儀器
- 基於 FPGA 的觸發技術實現高速資料擷取
- 具備深度記憶的多通道擷取
- 靈活的位元流選項：觸發、分析或自訂
DS1003A 數位化器介面
- 支援基於模式的觸發功能與進階同步功能
- 將 M5200A 的輸入端與直流耦合及交流耦合結合
- 觸發 I/O 時間解析度為 200 ps
這將解鎖什麼
- 其中一個模組同時涵蓋獨立示波器的使用與專用觸發訊號的產生，無需為每項功能分別配置硬體
- 位元流的靈活性意味著，同一台數位化器既可立即重新配置為基於模式的觸發模式，亦可在相關性／TVLA 分析技術日趨成熟時，據此進行重新配置
- 自訂位元流支援功能，為建構針對特定目標的觸發邏輯留有餘地，而這些邏輯並非標準選項所涵蓋的範圍
DS1070A 基帶 AWG
用於故障注入的高速波形控制
故障注入測試需要速度、精準度與靈活性。DS1070A 基頻 AWG 同時具備這三項特點。
它結合了高速類比波形產生功能與靈活的控制能力，能夠以精確的時序和振幅進行精準的突波注入，這對於發掘現代嵌入式裝置中的細微漏洞至關重要。
關鍵構成要素
M5301A 基頻任意波形產生器
- 可產生 0 至 400 MHz 的類比波形
- 具有亞納秒級解析度的多通道運作
- FPGA 的可程式設計性在進階毛刺整形中的應用
DS1004A 介面卡
- 將 AWG 輸出轉換為適用於故障注入的電壓級訊號
- 包含針對突波產生所優化的位元流
這將解鎖什麼
- 對突變時序與振幅的精確控制
- 支援電壓、時脈、電磁（EM）及雷射 FI 測試專案
- 可進行先進且可重複的故障注入實驗
DS1071A PXIe 數位 I/O + 介面卡
控制、協調與通訊協定意識
DS1071A 數位 I/O 解決方案為複雜的故障注入測試計畫提供了觸發與通訊的基礎架構。
它能讓測試平台與被測裝置之間保持緊密協調，確保在進行時序敏感型攻擊時，數位事件、通訊協定及觸發訊號能保持同步。
關鍵構成要素
M5302A 數位 I/O 模組
- 高速 GPIO 及 LVDS 通道
- 基於 FPGA 的客製化邏輯控制
- 支援常見的除錯與通訊介面
DS1005A 介面卡
- 將 LVDS 訊號轉換為單端邏輯電平
- 針對故障控制與通訊協定互動進行了優化
這將解鎖什麼
- 多組數位訊號之間的精確同步
- 在多重故障及複雜時序情境下不可或缺
- 具備適應不同裝置架構的靈活性
- 這種程度的數位控制對於進行先進且協調的故障注入測試至關重要。
即將推出的 PXI 模組
為擴展該平台的功能，我們持續開發新的 PXI 模組。這些新增模組旨在支援不斷演進的測試需求、新的安全方法，以及在側通道分析與故障注入兩大領域中更先進的應用情境。該平台旨在隨著您的需求共同成長，讓您能夠隨著時間推移，逐步擴展並調整您的測試配置
建立您專屬的裝置安全測試實驗室
本頁面的所有內容皆以同一基礎為起點：DS1050A 作為核心，所有測試、模組及測試專案皆以此為基礎建構。在此基礎上，測試平台將根據您的測試需求進行擴充。
從高層次來看，建置裝置安全測試實驗室主要取決於四個要素：待測目標裝置、負責為系統供電並進行同步的測試平台、針對特定測試方法所設計的硬體（例如時脈、電源、電磁（EM）或雷射），以及用於設計和執行 SCA 或 FI 測試方案的軟體「Inspector」。
典型的實驗室會分階段發展，並逐步增加複雜度。根據您的需求，實驗室分為不同層級與類型，隨著測試需求的擴大，各層級都會陸續增加組件或功能。每個階段皆基於相同的機箱、控制器及軟體建構，即使實驗室規模擴大，也無需更換任何組件。
下的裝置
測試
待分析與驗證的晶片、嵌入式系統或安全元件。
PXI 嵌入式安全測試平台
一個能為您的系統中所有儀器提供動力、進行控制並實現互聯的同步平台。
測試工具
用於執行特定測試方法的專用硬體，包括時鐘、電源、電磁（EM）或雷射工具。
Inspector 軟體套件
一個用於設計、執行及分析側通道分析（SCA）與故障注入（FI）測試計畫的統一環境。
培訓與專業知識
持續培訓可確保團隊能跟上不斷演變的攻擊手法，並有效應用 SCA 和 FI 方法論。
常見問題
DS1050A 是一款基於 PXIe 的核心平台、機箱及控制器，用於驅動並同步側通道分析（SCA）與故障注入（FI）測試。
根據測試對象的不同，可將額外的模組及專用於測試的硬體連接至此核心。
- 側通道分析是透過觀察裝置的物理行為（例如功耗、電磁輻射、時序等），來了解其內部運作狀況，並試圖利用加密運算所產生的洩漏資訊。
- 「故障注入」是透過對裝置製造故障，使其以能揭露漏洞的方式失效，從而刻意干擾這種正常行為。
DS1050A 測試平台與 Inspector 軟體均支援這兩項功能。
某些模組（例如 DS1060A 觸發訊號產生器）可同時應用於兩者。其他模組（例如 DS1070A 突變訊號產生器與 DS1071A 數位 I/O）則專用於故障注入。測試平台本身保持不變；唯一改變之處在於連接的模組有哪些。
是的。機箱與控制器構成固定的基礎架構，隨著測試需求的增加，可依需求新增模組、觸發訊號產生器、突波產生器、數位 I/O，或是針對電源、時脈、電磁（EM）或雷射等特定測試用途的硬體，且無需更換現有的組件。
Inspector Software 是一套軟體套件，可透過測試平台來定義、設定及執行側通道分析（SCA）與故障注入（FI）測試計畫。
雖然硬體負責執行物理操作（例如擷取訊號或注入故障），但正是 Inspector 軟體將這些功能轉化為一套完整且結構化的測試流程。它能以受控且可重複的方式，進行目標設定、定義攻擊參數、自動化測量，以及管理測試結果。
實際上，只要您希望超越手動操作，並執行真正的測試專案，就必須使用 Inspector Software。無論是早期評估、驗證還是認證工作，它都能整合各種硬體元件、協調工作流程，並確保測試具有一致性、可擴展性及可追溯性。
DS1050A 的設計具備可擴展性，能滿足任何檢測需求，從專注於單一技術的配置，到完全整合的多技術實驗室皆可適用。
您可以從針對特定用途的配置開始，例如功率或電磁（EM）側通道分析，並隨著時間推移逐步擴展，納入其他功能，例如利用雷射的高階故障注入技術。無論應用範圍為何，核心平台、機箱、控制器及軟體均保持不變。
這意味著，隨著需求變化，您無需重新設計現有架構。相反地，您可以在同一個統一環境中，透過新增測試儀器與功能，逐步擴充您的實驗室。最終將建構出一個靈活的測試平台，能夠支援從早期評估到複雜驗證與認證工作流程的各項需求。