核心平台
嵌入式安全測試平台建立於一個核心平台之上，該平台將系統整合、控制和運算整合到一個單一、協同的環境中，旨在無縫整合並隨您的需求擴展。
此基礎確保每個儀器和模組同步運作，可在複雜的安全測試中實現精確的時序、可靠的量測和可重複的執行。隨著測試要求不斷演進，額外的 PXI 模組可插入同一系統，而不會中斷現有運作。
這種方法允許團隊從專注的設定開始，並隨著時間推移進行擴展，建立一個靈活的測試環境，以適應新的使用案例、方法和複雜度。
此平台的核心是兩個主要元件：
- M9046A PXIe 機箱
- M9038A PXIe 嵌入式控制器
此測試平台的基礎，為所有模組提供電源、散熱和系統整合。它創造了一個穩定且可擴充的環境，讓多個儀器可以在單一、同步的系統中協同運作。
此測試平台的控制中心，提供管理測試執行和執行進階安全分析所需的運算效能。它確保儀器之間順暢協調，並有效率地處理結果。
各元件如何整合
一套完整的安全測試設定包含四個部分：待測目標裝置、為所有元件供電並同步的測試平台、針對測試方法專用的硬體，以及執行測試活動的軟體。所有這些的核心是 DS1050A，它是其他所有元件連接和依賴的機箱與控制器。
連接到該核心的元件會因您測試的內容而異。下方分頁將介紹可直接插入 DS1050A 的模組化建構區塊。
- 測試平台架構
- 觸發
- 毛刺注入
- 數位 I/O
- 即將推出的模組
PXIe 機箱並非執行單一固定配置，它可同時接受多個模組，而您安裝的模組將決定測試平台的功能。
- 新增觸發產生器，即可精確地觸發訊號。
- 新增波形產生器，即可透過精確的時序和振幅來塑造毛刺。
- 新增數位 I/O 模組，即可同步多個通道，以執行複雜的多步驟測試活動。
這就是該平台模組化和可擴充而非固定的原因：相同的機箱和控制器透過更換所安裝的 PXI 卡，即可同時支援 旁通道分析 和 故障注入。
團隊可以從單一測試類型所需的最少元件開始，並在出現新需求時新增模組，而無需更換核心。
DS1060A 型樣式觸發產生器
適用於 SCA 和 FI 的精確時序
精確的觸發對於 旁通道分析 (SCA) 和故障注入 (FI) 至關重要。DS1060A 提供準確、可重複的時序，以將量測和注入與待測裝置的行為對齊。
DS1060A 由 M5200A 數位轉換器和 DS1003A 數位轉換器介面組成。此解決方案可作為獨立示波器運作，或根據任務執行不同的位元流。型樣式觸發產生器可實現型樣式驅動的觸發，並提供用於旁通道分析工作流程的額外位元流。
主要建構區塊
M5200A PXIe 數位轉換器
- 採用 FPGA 式觸發的高速資料擷取
- 具備深度記憶體的多通道擷取
- 彈性位元流選項：觸發、分析或客製化
DS1003A 數位轉換器介面
- 實現型樣式觸發和進階同步
- 結合 M5200A 的輸入與 DC 和 AC 耦合
- 觸發 I/O 時間解析度為 200 ps
這項功能可實現的效益
- 一個模組即可涵蓋獨立示波器應用和專用觸發產生，無需為每個功能準備單獨的硬體
- 位元流彈性意味著相同的數位轉換器今日可重新配置用於基於模式的觸發，並在該功能成熟後用於相關性/TVLA 分析
- 客製化位元流支援提供了建構針對特定目標的觸發邏輯的空間，即使該邏輯未涵蓋在標準選項中
DS1070A 基頻 AWG
用於故障注入的高速波形控制
故障注入測試需要速度、準確性和彈性。DS1070A 基頻 AWG 可提供這三項功能。
它結合了高速類比波形產生與彈性控制，可實現具有精確時序和振幅的精準毛刺注入，這對於揭示現代嵌入式裝置中的細微漏洞至關重要。
主要建構區塊
M5301A 基頻任意波形產生器
- 產生 0 至 400 MHz 的類比波形
- 具有次奈秒解析度的多通道操作
- 用於進階毛刺整形的 FPGA 可編程性
DS1004A 介面卡
- 將 AWG 輸出轉換為適用於故障注入的電壓位準訊號
- 包含針對毛刺產生進行最佳化的位元流
這項功能可實現的效益
- 精確控制毛刺時序和振幅
- 支援電壓、時脈、EM 和雷射 FI 測試活動
- 實現進階、可重複的故障注入實驗
DS1071A PXIe 數位 I/O + 介面卡
控制、協調與協定感知
DS1071A 數位 I/O 解決方案為複雜的故障注入測試活動提供了觸發和通訊骨幹。
它實現了測試平台與待測裝置之間的緊密協調，確保數位事件、協定和觸發在時序敏感型攻擊期間保持同步。
主要建構區塊
M5302A 數位 I/O 模組
- 高速 GPIO 和 LVDS 通道
- 用於客製化邏輯的基於 FPGA 的控制
- 支援常見的偵錯與通訊介面
DS1005A 介面卡
- 將 LVDS 訊號轉換為單端邏輯位準
- 針對毛病控制與協定互動進行最佳化
這項功能可實現的效益
- 多個數位訊號之間的精確同步
- 對於多重毛病和複雜時序情境至關重要
- 可靈活適應不同的裝置架構
- 這種數位控制能力對於進階的協調式故障注入測試至關重要。
即將推出的 PXI 模組
新的 PXI 模組持續開發中，以擴展平台的應用能力。這些新增功能旨在支援不斷演進的測試需求、新的安全方法，以及側通道分析和故障注入方面更進階的使用案例。此平台旨在隨著您的需求而成長，讓您能夠隨著時間擴展和調整測試設定。
建立您專屬的裝置安全測試實驗室
本頁面上的所有內容都源於相同的基礎：DS1050A 作為核心，所有測試、模組和專案都以此為基礎。從此核心開始，測試平台會根據您的測試需求進行擴展。
概括而言，建置裝置安全測試實驗室歸結為四個要素：待測目標裝置、為系統供電和同步的測試平台、特定於您測試方法的硬體（時脈、電源、電磁 (EM) 或雷射），以及用於設計和執行 SCA 或 FI 專案的 Inspector 軟體。
典型的實驗室會分階段成長，複雜度也隨之增加。根據您的需求，有不同層級和類型的實驗室，每個實驗室都會隨著測試需求的擴展而增加元件或功能。每個階段都建立在相同的機箱、控制器和軟體基礎上，隨著實驗室的成長，無需更換任何設備。
待測
裝置
待分析和驗證的晶片、嵌入式系統或安全元件。
PXI 嵌入式安全測試平台
一個同步平台，為您設定中的所有儀器供電、控制並連接。
測試工具
專用硬體，包括時脈、電源、電磁 (EM) 或雷射工具，用於執行特定的測試方法。
Inspector 軟體套件
用於設計、執行和分析側通道分析 (SCA) 和故障注入 (FI) 專案的統一環境。
培訓與專業知識
持續的培訓可確保團隊能夠跟上不斷演進的攻擊技術，並應用有效的 SCA 和 FI 方法。
常見問題
DS1050A 是核心的 PXIe 架構平台、機箱和控制器，可為旁通道分析 (SCA) 和故障注入 (FI) 測試提供電源和同步化功能。
其他模組和測試專用硬體會根據您的測試內容連接到此核心。
- 旁通道分析會觀察裝置的實體行為，例如功耗、電磁輻射、時序等，以了解其內部運作並嘗試利用密碼操作的洩漏。
- 故障注入會透過對裝置進行故障注入，刻意擾亂其正常行為，使其以暴露漏洞的方式失效。
DS1050A 測試平台和 Inspector 軟體均支援這兩種功能。
有些模組，例如 DS1060A 觸發產生器，兩者皆可使用。其他模組，例如 DS1070A 故障注入產生器和 DS1071A 數位 I/O，則專用於故障注入。測試平台本身保持不變；變動的是連接的模組。
是的。機箱和控制器構成一個固定的基礎，隨著測試需求的增長，可以增加模組、觸發產生、故障注入產生、數位 I/O，或用於電源、時脈、電磁 (EM) 或雷射的測試專用硬體，而無需更換現有設備。
Inspector 軟體是一套軟體套件，用於使用測試平台定義、配置和執行旁通道分析 (SCA) 和故障注入 (FI) 活動。
硬體負責執行實體動作，例如擷取訊號或注入故障，而 Inspector 軟體則將這些功能轉化為完整、結構化的測試。它允許設定目標、定義攻擊參數、自動化量測，並以受控且可重複的方式管理結果。
實際上，當您想要超越手動互動並執行實際測試活動時，就需要 Inspector 軟體。它整合了不同的硬體元件，協調工作流程，並確保測試的一致性、可擴展性和可追溯性，無論是早期評估、驗證還是認證工作。
DS1050A 旨在根據任何測試需求進行擴展，從專注於單一技術的設定到完全整合的多技術實驗室。
您可以從目標設定開始，例如電源或電磁 (EM) 旁通道分析，並隨著時間擴展，以包含額外的功能，例如使用雷射的進階故障注入技術。無論範圍如何，核心平台、機箱、控制器和軟體都保持一致。
這表示您無需隨著需求演變而重新設計您的設定。相反地，您可以在相同的統一環境中，透過新增儀器和功能來逐步擴展您的實驗室。其結果是一個靈活的測試平台，支援從早期評估到複雜驗證和認證工作流程的所有環節。