約翰·馬

約翰·馬

訊號源部門總經理

德瓦·伊薩

德瓦·伊薩

產品行銷經理

安迪·費拉拉

安迪·費拉拉

微波設計工程師 / 研發

布魯克斯·漢利

布魯克斯·漢利

應用工程師/科學家

線上研討會 | 30 分鐘
XG7 線上研討會 佔位符

認識 Pro XG7 背後的工程師們

與負責 Pro XG7 類比訊號產生器射頻架構的團隊一同深入探討其開發過程。了解工程決策、探索設計挑戰,並透過量測數據,見證訊號源性能與元件測試之間的關聯。 

深入了解 Pro XG7 類比訊號產生器

深入了解該團隊如何重新設計射頻(RF)架構,將兩台完整的訊號產生器整合至緊湊的 2U 機箱中。探索與前一代產品並列的雜訊測量結果,並觀看 20 ns 平滑脈衝的示範。

 

當地播出日期與時間:
Pro XG7 類比訊號產生器系列

探索 Pro XG7→

全新 Pro XG7 登場:量測級訊號。更多通道。

在 2U 機箱中提供兩個獨立的 RF 通道、超低相位雜訊,以及高達 +22 dBm 的校準輸出功率。

SG6311A Pro 類比訊號產生器

射頻(RF)覆蓋範圍

9 kHz 至 20 GHz

低雜訊射頻刺激

–135 dBc/Hz 相位雜訊,典型值

校準後輸出功率

最高可達 +22 dBm

雙通道密度

2U 機箱內配備 2 個獨立 RF 通道

更純淨的射頻刺激

將相位雜訊、寬頻雜訊及雜散訊號降至最低,以便將元件的行為與訊源造成的干擾清楚區分開來。

超低相位噪聲

在 10 GHz 偏移頻率下,典型相位雜訊為 –135 dBc/Hz,可維持計量級測量的可視性。

校準輸出功率

在嚴苛的測試環境中,以最高達 +22 dBm 的純淨且經校準的輸出功率,驅動高要求裝置及有損測試路徑。

4× 通道密度

在 2U 機架空間內整合兩個獨立的 RF 通道,其通道密度是同等規格的 8U 雙儀器配置的 4 倍。

讓我們解決未來挑戰。

洽詢深諳此道的專家。