Conheça os bastidores do desenvolvimento do Gerador de Sinais Analógicos Pro XG7 com a equipe responsável por sua arquitetura de RF. Saiba mais sobre as decisões de engenharia, explore os desafios de projeto e veja as medições que relacionam o desempenho da fonte aos testes dos dispositivos.
Conheça mais detalhes sobre como a equipe reprojetou a arquitetura de RF para integrar dois geradores de sinal completos em um chassi compacto de 2U. Explore as medições comparativas de ruído em relação à geração anterior, juntamente com uma demonstração de pulsos nivelados de 20 ns.
Índia / Sudeste Asiático
13h30 SGT / 16h30 AET
Europa / Oriente Médio
10h CET / 13h GST
Taiwan
13h30 CST
Américas
10h (horário do Pacífico) / 13h (horário do Leste)
China
14h CST
Cobertura de frequência de RF
9 kHz a 20 GHz
Estímulo de RF de baixo ruído
– Ruído de fase de 135 dBc/Hz, típico
Potência de saída calibrada
Até +22 dBm
Densidade de canal duplo
2 canais de RF independentes em 2U
Minimizar o ruído de fase, o ruído de banda larga e os sinais indesejados para distinguir claramente o comportamento do dispositivo dos artefatos da fonte.
Mantenha a visibilidade para medições de precisão metrológica com ruído de fase típico de –135 dBc/Hz em um desvio de 10 GHz.
Alimente dispositivos exigentes e percursos de teste com perdas com potência de saída limpa e calibrada de até +22 dBm em testes exigentes.
Incorpore dois canais de RF independentes em 2U, oferecendo 4 vezes a densidade de canais de uma configuração equivalente de 8U com dois instrumentos.
O que você está procurando?