Adéntrate en el proceso de desarrollo del generador de señales analógicas Pro XG7 junto al equipo responsable de su arquitectura de radiofrecuencia. Descubre las decisiones de ingeniería, explora los retos de diseño y observa las mediciones que relacionan el rendimiento de la fuente con las pruebas de los dispositivos.
Descubre con más detalle cómo el equipo rediseñó la arquitectura de RF para integrar dos generadores de señales completos en un chasis compacto de 2U. Explora las mediciones de ruido comparativas con respecto a la generación anterior, junto con una demostración de pulsos nivelados de 20 ns.
India / Sudeste Asiático
13:30 h SGT / 16:30 h AET
Europa / Oriente Medio
10:00 h CET / 13:00 h GST
Taiwán
13:30 h CST
América
10:00 h (hora del Pacífico) / 13:00 h (hora del Este)
China
14:00 h CST
Cobertura de radiofrecuencia
9 kHz a 20 GHz
Estímulo de RF de bajo ruido
–135 dBc/Hz de ruido de fase, típico
Potencia de salida calibrada
Hasta +22 dBm
Densidad de doble canal
2 canales de RF independientes en 2U
Minimiza el ruido de fase, el ruido de banda ancha y las señales parásitas para distinguir claramente el comportamiento del dispositivo de los artefactos de la fuente.
Mantenga la visibilidad para mediciones de grado metrológico con un ruido de fase típico de –135 dBc/Hz a una desviación de 10 GHz.
Alimenta dispositivos exigentes y trayectorias de prueba con pérdidas con una potencia de salida limpia y calibrada de hasta +22 dBm en pruebas exigentes.
Incorpora dos canales de RF independientes en un espacio de 2U, lo que ofrece una densidad de canales cuatro veces superior a la de una configuración equivalente de dos instrumentos en 8U.
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