Pro XG7 アナログ信号発生器の開発の舞台裏を、そのRFアーキテクチャを担当したチームと共に探ります。エンジニアリング上の判断について聞き、設計上の課題を探り、信号源の性能とデバイス試験を結びつける測定結果をご覧ください。
チームが、2台の完全な信号発生器をコンパクトな2Uシャーシに統合するために、RFアーキテクチャをどのように再設計したかを詳しくご覧ください。前世代製品とのノイズ測定結果を並べて比較できるほか、20 nsのレベル調整済みパルスのデモもご覧いただけます。
インド/東南アジア
シンガポール標準時(SGT)午後1時30分/オーストラリア東部標準時(AET)午後4時30分
ヨーロッパ/中東
午前10:00(CET )/午後1:00(GST)
台湾
午後1時30分CST
RF周波数範囲
9 kHz~20 GHz
低ノイズのRF刺激
–135 dBc/Hz の位相ノイズ(標準値)
校正済み出力電力
最大+22 dBm
デュアルチャネル密度
2U筐体に2つの独立したRFチャネルを搭載
位相ノイズ、広帯域ノイズ、およびスパーを最小限に抑え、デバイスの挙動とソース由来のアーチファクトを明確に区別する。
10 GHzのオフセットにおいて、典型的な位相ノイズが–135 dBc/Hzであるため、計測グレードの測定における可視性を維持します。
過酷な試験において、最大+22 dBmのクリーンで校正済みの出力電力により、高負荷のデバイスや損失の大きい試験経路を駆動します。
2Uの筐体に2つの独立したRFチャネルを収容し、同等の8Uの2台構成と比較して4倍のチャネル密度を実現します。
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