Scopri i retroscena dello sviluppo del generatore di segnali analogici Pro XG7 insieme al team che ne ha curato l'architettura RF. Scopri le scelte ingegneristiche, esplora le sfide progettuali e osserva le misurazioni che collegano le prestazioni della sorgente ai test sui dispositivi.
Scopri più da vicino come il team ha riprogettato l'architettura RF per integrare due generatori di segnali completi in uno chassis compatto da 2U. Esplora le misurazioni del rumore a confronto con la generazione precedente, insieme a una dimostrazione di impulsi livellati da 20 ns.
India / Sud-est asiatico
13:30 SGT / 16:30 AET
Europa / Medio Oriente
10:00 CET / 13:00 GST
Taiwan
13:30 CST
Copertura in frequenza RF
Da 9 kHz a 20 GHz
Stimolo RF a bassa rumorosità
–135 dBc/Hz di rumore di fase, valore tipico
Potenza di uscita calibrata
Fino a +22 dBm
Densità a doppio canale
2 canali RF indipendenti in 2U
Ridurre al minimo il rumore di fase, il rumore a banda larga e le spurie per distinguere chiaramente il comportamento del dispositivo dagli artefatti della sorgente.
Garantire la visibilità per misurazioni di livello metrologico con un rumore di fase tipico pari a –135 dBc/Hz a un offset di 10 GHz.
Alimenta dispositivi esigenti e percorsi di prova con perdite grazie a una potenza di uscita pulita e calibrata fino a +22 dBm in prove complesse.
Inserisce due canali RF indipendenti in uno spazio di 2U, offrendo una densità di canali quattro volte superiore rispetto a una configurazione equivalente con due strumenti in 8U.
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