Pro XG7 아날로그 신호 발생기의 개발 과정을, 이 제품의 RF 아키텍처를 담당한 팀과 함께 자세히 살펴보세요. 엔지니어링상의 결정 사항을 들어보고, 설계 과정에서 직면한 과제를 탐구하며, 신호 발생기 성능과 디바이스 테스트를 연결해 주는 측정 결과를 확인해 보세요.
팀이 두 대의 완전한 신호 발생기를 콤팩트한 2U 섀시에 통합하기 위해 RF 아키텍처를 어떻게 재설계했는지 자세히 살펴보세요. 이전 세대 제품과의 나란히 비교한 노이즈 측정 결과와 20 ns 레벨링 펄스 시연을 확인해 보세요.
인도 / 동남아시아
오후 1시 30분 (SGT) / 오후 4시 30분 (AET)
유럽 / 중동
오전 10:00 ( CET ) / 오후 1:00 (GST)
대만
오후 1시 30분 CST
RF 주파수 범위
9 kHz ~ 20 GHz
저잡음 RF 자극
–135 dBc/Hz 위상 잡음, 대표값
보정된 출력 전력
최대 +22 dBm
듀얼 채널 밀도
2U 섀시에 2개의 독립적인 RF 채널
위상 잡음, 광대역 잡음 및 스퍼를 최소화하여 소스에서 기인한 아티팩트와 소자의 동작을 명확히 구분합니다.
10 GHz 오프셋에서 전형적인 위상 잡음이 –135 dBc/Hz인 계측 등급 측정의 가시성을 유지합니다.
까다로운 테스트 환경에서 최대 +22 dBm의 깨끗하고 보정된 출력 전력을 통해 까다로운 장치와 손실이 발생하는 테스트 경로를 구동합니다.
2U 공간에 두 개의 독립적인 RF 채널을 탑재하여, 동등한 성능의 8U 2대 장비 구성에 비해 4배 높은 채널 밀도를 제공합니다.
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