如何執行光子積體電路功能測試

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+ 基礎桌上型源量測單元

測試 PIC 光電效能

光子積體電路功能測試需要同步的量測工作流程，此工作流程結合了光學刺激、偏振控制、光功率量測和電氣特性分析。典型的測試設定使用可調諧雷射光源掃描待測裝置的波長、自動偏振控制器施加定義的偏振態、光功率計量測傳輸或耦合的光功率，以及源量測單元偏壓主動元件並量測產生的電流。這使得波導、光柵耦合器、濾波器和諧振器等被動結構，能夠與 PIN 光電二極體等主動元件在相同的工作流程中進行評估。

在測試期間，波長掃描會擷取目標光學範圍內的插入損耗、光譜特性、頻寬行為和諧振響應。偏振解析量測可增加對橫向電場和橫向磁場行為的可視性，包括偏振相關損耗和對準靈敏度。對於主動元件驗證，光學輸入會施加到晶片上光電二極體，同時源量測單元會記錄操作或偏壓條件下的電流，從而實現響應度和暗電流分析。在單一序列中自動化這些量測可減少手動設定變更，並有助於在完整的光子積體電路測試流程中保持光學和電氣結果的關聯性。

光子學積體電路測試解決方案

執行光子積體電路功能測試需要同步的工作流程，此工作流程結合了掃描式光學刺激、偏振控制、光功率量測和電氣特性分析。此解決方案使用可調諧雷射掃描波長、偏振控制與量測儀器循環通過定義的偏振態、光功率計量測光學響應，以及源量測單元記錄 PIN 光電二極體等主動元件的電流。此配置支援在單一自動化測試環境中進行插入損耗、偏振相關損耗、響應度和暗電流量測。

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