如何執行光子積體電路功能測試

索取報價

檢視解決方案簡報

+ 必備的 桌上型源量測單元

測試 PIC 的光電性能

光子積體電路的功能測試需要一套同步的測量工作流程，該流程需整合光刺激、偏振控制、光功率測量及電學特性分析。典型的測試配置包含：使用可調諧雷射光源對被測裝置進行波長掃描、透過自動化偏振控制器施加定義好的偏振狀態、利用光功率計測量傳輸或耦合的光功率，以及運用光源測量單元對有源元件施加偏壓並測量產生的電流。此配置使波導、光柵耦合器、濾波器及諧振器等被動結構，能夠與 PIN 光電二極體等有源元件在相同的流程中進行評估。

在測試過程中，波長掃描可擷取目標光學範圍內的插入損耗、光譜特徵、頻寬特性及共振響應。偏振解析測量則能進一步揭示橫電場與橫磁場的行為，包括偏振相關損耗及對齊靈敏度。針對主動元件的驗證，系統會將光輸入施加至晶片內光電二極體，同時光源測量單元在工作或偏壓條件下記錄電流，從而進行靈敏度與暗電流分析。將這些測量自動化整合於單一序列中，可減少手動調整設定的次數，並有助於在整個光子積體電路測試流程中，維持光學與電學結果的一致性。

光子學積體電路測試解決方案

執行光子學積體電路的功能測試，需要一套同步的工作流程，將掃頻光刺激、偏振控制、光功率測量以及電學特性分析結合起來。該解決方案採用可調諧雷射進行波長掃描，搭配偏振控制與測量儀器循環切換預定義的偏振狀態，並透過光功率計測量光學響應，同時利用源測量單元記錄來自 PIN 光電二極體等有源元件的電流。此配置可在單一自動化測試環境中，支援插入損耗、偏振相關損耗、靈敏度及暗電流的測量。

索取報價