如何為功率裝置產生雙脈衝信號

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波形和函數產生器
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分析功率元件的切換行為。

用於評估功率半導體裝置動態開關性能的雙脈衝測試方法，向待測裝置施加兩個連續的閘極脈衝，同時擷取電壓和電流波形，以分析開關損耗、電壓過衝、二極體恢復行為以及電流和電壓轉換率。第一個脈衝透過激勵負載電感器使電路達到穩態操作，隨後是恢復期，然後是第二個脈衝，用於擷取裝置的開關特性。

為了執行此測試，工程師可以使用函數產生器來產生脈衝訊號，並使用示波器來觀察產生的波形。正確配置脈衝時序和訊號形狀對於避免量測失真或裝置損壞至關重要。需要高頻寬示波器和適當的探棒才能準確擷取瞬態行為，以便分析直接影響電源效率和熱管理的關鍵參數，例如 Eon、Eoff、延遲時間和轉換斜率。

雙脈衝訊號產生與特性分析

將雙脈衝訊號施加到功率半導體裝置需要精確的波形產生、靈活的脈衝控制和高解析度量測。Keysight Smart Bench Essentials Plus 函數/波形產生器採用 Trueform 波形技術，可提供高訊號傳真度、16 位元任意波形產生和高達 100 MHz 的頻寬。它可與 BenchLink Waveform Builder Pro 軟體無縫協同運作，以設計和匯入客製化脈衝設定檔。Smart Bench Essentials Plus HD3 示波器以 14 位元垂直解析度、內建波形分析工具和低雜訊底限來補充此設定，以擷取詳細的切換暫態。總體而言，此解決方案讓工程師能夠清晰且可重複地評估開關損耗、切換速度和過衝行為。
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