パワーデバイス向けダブルパルス信号の生成方法

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パワーデバイスにおけるスイッチング動作の解析

パワー半導体デバイスの動的スイッチング性能を評価するダブルパルス試験法は、被試験デバイスに2つの連続ゲートパルスを印加し、電圧と電流の波形を取り込みながら、スイッチング損失、電圧オーバーシュート、ダイオードの回復動作、電流と電圧のスルーレートを解析します。最初のパルスは、負荷インダクタに通電して回路を定常動作状態にし、その後、回復期間とデバイスのスイッチング特性をキャプチャする2番目のパルスが続きます。

このテストを実行するために、エンジニアはファンクション・ジェネレーターを使ってパルス信号を作り、オシロスコープを使って結果の波形を観測することができます。測定ディストーション デバイスの損傷を避けるためには、パルス・タイミングと信号形状を適切に設定することが不可欠です。過渡挙動を正確に捉え、Eon、Eoff、遅延時間、遷移スロープなど、電力効率や熱管理に直接影響する重要なパラメータの解析 可能にするには、高帯域幅のオシロスコープと適切なプローブが必要です。

ダブルパルス信号生成と特性評価

パワー半導体デバイスにダブルパルス信号を印加するには、高精度な波形生成、柔軟なパルス制御、高分解能測定が必要です。キーサイトのSmart Bench Essentials Plusファンクション/任意波形発生器は、Trueform波形テクノロジー、16ビット任意波形生成、最大100 MHzの帯域幅により、高い信号忠実度を実現します。BenchLink Waveform Builder Proソフトウェアとシームレスに連携し、カスタムパルスプロファイルを設計およびインポートできます。Smart Bench Essentials Plus HD3オシロスコープは、14ビットの垂直分解能、内蔵波形解析ツール、低ノイズフロアを備え、詳細なスイッチング過渡現象を捕捉することで、このセットアップを補完します。このソリューションを組み合わせることで、エンジニアはターンオン/ターンオフ損失、スイッチング速度、オーバーシュート挙動を明確かつ再現性高く評価できます。
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