전력 소자를 위한 이중 펄스 신호 생성 방법

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전력 디바이스의 스위칭 동작 분석

전력 반도체 소자의 동적 스위칭 성능을 평가하기 위한 이중 펄스 테스트 방법은 스위칭 손실, 전압 오버슈트, 다이오드 복구 동작, 전류 및 전압 슬루율을 분석하기 위해 전압 및 전류 파형을 캡처하면서 테스트 중인 소자에 두 개의 순차적인 게이트 펄스를 인가합니다. 첫 번째 펄스는 부하 인덕터에 에너지를 공급하여 회로를 정상 작동 상태로 만들고, 이어서 복구 기간과 소자의 스위칭 특성을 캡처하는 두 번째 펄스가 뒤따릅니다.

테스트를 수행하기 위해 엔지니어는 함수 발생기를 사용하여 펄스 신호를 생성하고 오실로스코프를 사용하여 결과 파형을 관찰할 수 있습니다. 측정 왜곡 또는 장치 손상을 방지하려면 펄스 타이밍 및 신호 모양의 적절한 구성이 필수적입니다. 과도 동작을 정확하게 캡처하려면 고대역폭 오실로스코프와 적절한 프로브가 필요하며, 이를 통해 전력 효율 및 열 관리에 직접적인 영향을 미치는 Eon, Eoff, 지연 시간 및 전환 기울기와 같은 주요 매개변수를 분석할 수 있습니다.

이중 펄스 신호 생성 및 특성 분석

전력 반도체 장치에 이중 펄스 신호를 인가하려면 정밀한 파형 생성, 유연한 펄스 제어 및 고해상도 측정이 필요합니다. 키사이트 Smart Bench Essentials Plus 함수/파형 발생기는 Trueform 파형 기술, 16비트 임의 파형 생성 및 최대 100MHz 대역폭으로 높은 신호 충실도를 제공합니다. BenchLink Waveform Builder Pro 소프트웨어와 원활하게 작동하여 맞춤형 펄스 프로파일을 설계하고 가져올 수 있습니다. Smart Bench Essentials Plus HD3 오실로스코프는 14비트 수직 해상도, 내장 파형 분석 도구 및 낮은 노이즈 플로어를 통해 상세한 스위칭 과도 현상을 캡처하여 이 설정을 보완합니다. 이 솔루션은 엔지니어가 턴온 및 턴오프 손실, 스위칭 속도 및 오버슈트 동작을 명확하고 반복적으로 평가할 수 있도록 합니다.
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