Wie man einen Funktionstest für photonische ICs durchführt

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Test der optischen und elektrischen Leistungsfähigkeit von PICs

Funktionstests von photonischen integrierten Schaltungen erfordern einen synchronisierten Messablauf, der optische Anregung, Polarisationskontrolle, optische Leistungsmessung und elektrische Charakterisierung kombiniert. Ein typischer Testaufbau verwendet eine abstimmbare Laserquelle, um die Wellenlänge über das zu testende Bauelement zu variieren, einen automatisierten Polarisationsregler zur Ansteuerung definierter Polarisationszustände, ein optisches Leistungsmessgerät zur Messung der übertragenen oder eingekoppelten optischen Leistung sowie eine Messeinheit zur Vorspannung aktiver Bauelemente und Messung des erzeugten Stroms. Dadurch können passive Strukturen wie Wellenleiter, Gitterkoppler, Filter und Resonatoren im selben Arbeitsablauf wie aktive Komponenten wie PIN-Fotodioden geprüft werden.

Während des Tests erfasst der Wellenlängen-Sweep Einfügungsdämpfung, spektrale Eigenschaften, Bandbreitenverhalten und Resonanzverhalten im gesamten optischen Zielbereich. Polarisationsaufgelöste Messungen ermöglichen Einblicke in das transversale elektrische und magnetische Verhalten, einschließlich polarisationsabhängiger Dämpfung und Ausrichtungsempfindlichkeit. Zur Validierung aktiver Bauelemente wird ein optisches Eingangssignal an die integrierte Fotodiode angelegt, während die Messeinheit den Strom unter Betriebs- oder Vorspannungsbedingungen aufzeichnet. Dies ermöglicht die Analyse von Empfindlichkeit und Dunkelstrom. Die Automatisierung dieser Messungen in einer einzigen Sequenz reduziert manuelle Einrichtungsänderungen und trägt dazu bei, optische und elektrische Ergebnisse im gesamten Testablauf photonischer integrierter Schaltungen zu korrelieren.

Photonik-IC-Testlösung

Die Funktionsprüfung integrierter photonischer Schaltkreise (PIC) erfordert einen synchronisierten Arbeitsablauf, der einen gewwubbelten optischen Stimulus, Polarisationssteuerung, optische Leistungsmessung und elektrische Charakterisierung kombiniert. Die Lösung verwendet einen abstimmbaren Laser zur Wellenlängenabstimmung, ein Polarisationssteuerungs- und -messgerät zum Durchlaufen definierter Polarisationszustände, ein optisches Leistungsmessgerät zur Messung der optischen Antwort sowie eine Source Measure Unit zur Aufzeichnung des Stroms von aktiven Bauelementen wie PIN-Fotodioden. Diese Konfiguration unterstützt Einfügungsdämpfung, polarisationsabhängige Dämpfung, Responsivität und Dunkelstrommessungen in einer einzigen automatisierten Testumgebung.

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