광학 집적회로(Photonics IC) 기능 테스트 수행 방법

견적 받기

솔루션 브리프 보기

+ 필수적인 벤치탑 소스-측정 장치

PIC의 광학적 및 전기적 성능 테스트

광 집적 회로의 기능 테스트에는 광 자극, 편광 제어, 광 파워 측정 및 전기적 특성 분석을 결합한 동기화된 측정 워크플로가 필요합니다. 일반적인 테스트 설비에는 테스트 대상 장치에 걸쳐 파장을 스윕하는 가변 레이저 소스, 정의된 편광 상태를 적용하는 자동 편광 제어기, 투과되거나 결합된 광 파워를 측정하는 광 파워 미터, 그리고 능동 소자에 바이어스를 가하고 생성된 전류를 측정하는 소스 측정 장치가 사용됩니다. 이를 통해 도파관, 격자 커플러, 필터, 공진기와 같은 수동 소자를 PIN 포토다이오드와 같은 능동 소자와 동일한 워크플로우에서 평가할 수 있습니다.

테스트 중 파장 스윕을 통해 대상 광학 범위 전반에 걸친 삽입 손실, 스펙트럼 특성, 대역폭 거동 및 공진 응답을 측정합니다. 편광 분해 측정 기능을 통해 편광 의존 손실 및 정렬 민감도를 포함한 횡전계 및 횡자계 거동을 명확히 파악할 수 있습니다. 능동 소자 검증의 경우, 소스 측정 장치가 작동 또는 바이어스 조건 하에서 전류를 기록하는 동안 칩 내 포토다이오드에 광 입력을 가함으로써 감도 및 암전류 분석을 수행할 수 있습니다. 이러한 측정들을 단일 시퀀스로 자동화하면 수동 설정 변경을 줄일 수 있으며, 전체 광집적회로 테스트 흐름 전반에 걸쳐 광학 및 전기적 결과 간의 상관관계를 유지하는 데 도움이 됩니다.

광학 집적회로(IC) 테스트 솔루션

광학 집적 회로의 기능 테스트를 수행하려면 스윕 광 자극, 편광 제어, 광 파워 측정 및 전기적 특성 분석을 결합한 동기화된 워크플로가 필요합니다. 이 솔루션은 가변 레이저를 사용하여 파장을 스윕하고, 편광 제어 및 측정 장비를 통해 정의된 편광 상태를 순환하며, 광 파워 미터를 사용하여 광 응답을 측정하고, 소스 측정 장치를 통해 PIN 포토다이오드와 같은 능동 소자의 전류를 기록합니다. 이러한 구성은 단일 자동화 테스트 환경에서 삽입 손실, 편광 의존 손실, 감도 및 암전류 측정을 지원합니다.

견적 받기