광학 집적회로(Photonics IC) 기능 테스트 수행 방법

+ Essential 벤치탑 소스 측정 장치

PIC 광학 전기 성능 테스트

광 집적 회로 기능 테스트에는 광 자극, 편광 제어, 광 파워 측정 및 전기적 특성화를 결합한 동기화된 측정 워크플로가 필요합니다. 일반적인 테스트 설정에서는 가변 레이저 소스를 사용하여 DUT(Device Under Test) 전체에 걸쳐 파장을 스윕하고, 자동 편광 컨트롤러를 사용하여 정의된 편광 상태를 적용하며, 광 파워 미터를 사용하여 전송되거나 결합된 광 파워를 측정하고, 소스 측정 장치를 사용하여 능동 소자에 바이어스를 인가하고 생성된 전류를 측정합니다. 이를 통해 도파로, 격자 커플러, 필터, 공진기와 같은 수동 구조를 PIN 포토다이오드와 같은 능동 컴포넌트와 동일한 워크플로에서 평가할 수 있습니다.

테스트 중에는 파장 스윕을 통해 대상 광학 범위 전체에 걸쳐 삽입 손실, 스펙트럼 특성, 대역폭 동작 및 공진 응답을 캡처합니다. 편광 분해 측정은 편광 의존 손실 및 정렬 민감도를 포함하여 횡전기 및 횡자기 동작에 대한 가시성을 추가합니다. 능동 소자 검증을 위해 온칩 포토다이오드에 광학 입력이 인가되는 동안 소스 측정 장치는 작동 또는 바이어스 조건에서 전류를 기록하여 응답성 및 암전류 분석을 가능하게 합니다. 이러한 측정을 단일 시퀀스로 자동화하면 수동 설정 변경이 줄어들고 전체 광 집적 회로 테스트 흐름에서 광학 및 전기적 결과의 상관 관계를 유지하는 데 도움이 됩니다.

광학 집적회로(IC) 테스트 솔루션

광 집적 회로 기능 테스트를 수행하려면 스윕 광 자극, 편광 제어, 광 파워 측정 및 전기적 특성화를 결합한 동기화된 워크플로가 필요합니다. 이 솔루션은 가변 레이저를 사용하여 파장을 스윕하고, 편광 제어 및 측정 장비를 사용하여 정의된 편광 상태를 순환하며, 광 파워 미터를 사용하여 광학 응답을 측정하고, 소스 측정 장치를 사용하여 PIN 포토다이오드와 같은 능동 소자에서 전류를 기록합니다. 이 구성은 단일 자동화된 테스트 환경에서 삽입 손실, 편광 의존 손실, 응답성 및 암전류 측정을 지원합니다.

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