Cómo realizar una prueba funcional de un circuito integrado fotónico
Prueba del rendimiento óptico y eléctrico del PIC
Las pruebas funcionales de circuitos integrados fotónicos requieren un flujo de trabajo de medición sincronizado que combine el estímulo óptico, el control de la polarización, la medición de la potencia óptica y la caracterización eléctrica. Una configuración de prueba típica utiliza una fuente láser sintonizable para barrer la longitud de onda a lo largo del dispositivo sometido a prueba, un controlador de polarización automatizado para aplicar estados de polarización definidos, un medidor de potencia óptica para medir la potencia óptica transmitida o acoplada, y una unidad de medición de la fuente para polarizar los dispositivos activos y medir la corriente generada. Esto permite evaluar estructuras pasivas, como guías de onda, acopladores de rejilla, filtros y resonadores, en el mismo flujo de trabajo que los componentes activos, como los fotodiodos PIN.
Durante la prueba, el barrido de longitudes de onda captura la pérdida de inserción, las características espectrales, el comportamiento del ancho de banda y la respuesta de resonancia en todo el rango óptico objetivo. Las mediciones con resolución de polarización aportan información sobre el comportamiento de las componentes eléctricas y magnéticas transversales, incluidas la pérdida dependiente de la polarización y la sensibilidad a la alineación. Para la validación de dispositivos activos, se aplica una señal óptica de entrada al fotodiodo integrado en el chip, mientras que la unidad de medición de la fuente registra la corriente en condiciones de funcionamiento o de polarización, lo que permite analizar la sensibilidad y la corriente oscura. La automatización de estas mediciones en una única secuencia reduce los cambios manuales en la configuración y ayuda a mantener la correlación entre los resultados ópticos y eléctricos a lo largo de todo el flujo de pruebas del circuito integrado fotónico.
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