Come eseguire il test funzionale dei circuiti integrati fotonici
Test delle prestazioni ottiche ed elettriche del PIC
Il test funzionale dei circuiti integrati fotonici richiede un flusso di lavoro di misurazione sincronizzato che combini stimolo ottico, controllo della polarizzazione, misurazione della potenza ottica e caratterizzazione elettrica. Una tipica configurazione di test utilizza una sorgente laser sintonizzabile per variare la lunghezza d'onda sul dispositivo in prova, un controller di polarizzazione automatizzato per applicare stati di polarizzazione definiti, un misuratore di potenza ottica per misurare la potenza ottica trasmessa o accoppiata e un'unità di misurazione della sorgente per polarizzare i dispositivi attivi e misurare la corrente generata. Ciò consente di valutare strutture passive come guide d'onda, accoppiatori a reticolo, filtri e risonatori nello stesso flusso di lavoro dei componenti attivi come i fotodiodi PIN.
Durante il test, la scansione della lunghezza d'onda rileva la perdita di inserzione, le caratteristiche spettrali, il comportamento della larghezza di banda e la risposta di risonanza nell'intero intervallo ottico di riferimento. Le misurazioni con risoluzione di polarizzazione forniscono ulteriori informazioni sul comportamento elettrico trasversale e magnetico trasversale, comprese la perdita dipendente dalla polarizzazione e la sensibilità all'allineamento. Per la validazione dei dispositivi attivi, viene applicato un segnale ottico in ingresso al fotodiodo integrato nel chip mentre l'unità di misurazione della sorgente registra la corrente in condizioni operative o di polarizzazione, consentendo l'analisi della sensibilità e della corrente oscura. L'automazione di queste misurazioni in un'unica sequenza riduce le modifiche manuali alla configurazione e aiuta a mantenere la correlazione tra i risultati ottici ed elettrici lungo l'intero flusso di test dei circuiti integrati fotonici.
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