如何測量高速裝置的階躍響應

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+ PXIe 精密 SMU

擷取快速電壓階躍響應

階躍響應測量需要施加受控的電壓轉態，並隨著時間對產生的電壓進行取樣。訊號源必須快速轉態至目標電壓，而測量系統則必須擷取足夠的時域樣本以解析上升緣與後續的穩定行為。測量時間、源極範圍、取樣孔徑與擷取點皆會針對預期的瞬時持續時間進行組態。

擷取到的信號取樣會形成電壓對時間波形，可用於評估轉態與穩定特性。以數位化模式運作的源測定單元（SMU）能產生電壓步階，並以單一儀器擷取所產生的瞬時波形。當需要進行額外的主時間域驗證時，便可將測得的波形與示波器擷取的波形進行比較。

快速階躍響應測量解決方案

測量步階響應需要施加快速電壓轉態，同時擷取足夠的時間域取樣以解析上升緣與穩定行為。Keysight PXIe 精密型源／測定單元結合了電壓源與數位化測量功能，適用於此工作流程。它支援高達 1.25 MSa/s 的取樣率以及 1.4 V/µs 的最大變化率。本應用手冊示範了使用手動 800 ns 擷取時間（aperture）和 100 個數位化點進行的 40 V 步階響應測量。所產生的電壓對時間波形可直接呈現瞬時響應，並能與示波器測量結果進行比較。

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