如何測量高速裝置的階躍響應

+ PXIe 高精度 SMU

擷取快速電壓階躍響應

階躍響應測量需要施加受控的電壓瞬變，並隨時間採樣所產生的電壓。電源必須迅速過渡至目標電壓，同時測量系統須擷取足夠的時域樣本，以解析上升沿及隨後的穩態行為。測量時序、電源量程、採樣視窗及擷取點均需根據預期的瞬態持續時間進行設定。

所取得的樣本會形成一組電壓隨時間變化的波形，可用於評估過渡特性與穩態特性。一臺以數位化模式運作的源量測單元（SMU）可產生電壓階躍，並透過單一儀器擷取所產生的瞬態波形。當需要進行額外的時域驗證時，即可將所測得的波形與示波器擷取的波形進行比較。

快速階躍響應測量解決方案

要測量階躍響應，必須施加快速的電壓瞬變，同時擷取足夠的時域樣本，以解析上升沿與穩態行為。是德科技 (Keysight) 的 PXIe 精密源/量測單元結合了電壓源與數位化量測功能，以滿足此工作流程的需求。它支援最高 1.25 MSa/s 的採樣率，以及 1.4 V/µs 的最大上升/下降速率。本應用說明書透過使用 800 ns 手動視窗及 100 個數位化點，示範了一項 40 V 的階躍響應測量。所得的電壓-時間波形可直接呈現瞬態響應，並可與示波器測量結果進行比較。

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