高速デバイスのステップ応答を測定する方法

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PXIe 高精度 SMU
+ PXIe 高精度SMU
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急激な電圧ステップ応答の計測

ステップ応答測定では、制御された電圧遷移を印加し、その結果生じる電圧の経時変化をサンプリングする必要があります。測定システムが立ち上がりエッジおよびその後の定常状態への遷移を解明するのに十分な時間領域のサンプルを取得している間、電源は目標電圧へと急速に移行しなければなりません。測定タイミング、電源範囲、サンプリングアパーチャ、および取得ポイントは、予想される過渡現象の持続時間に合わせて設定されます。

取得したサンプルは、電圧対時間の波形を形成し、これに基づいて過渡特性や定常特性を評価することができます。デジタイジングモードで動作するソース・メジャー・ユニット（SMU）を使用すれば、単一の計測器で電圧ステップを発生させ、その結果生じる過渡波形を捕捉することができます。さらに、時間領域での検証が必要な場合は、測定された波形をオシロスコープで捕捉した波形と比較することができます。

高速ステップ応答測定ソリューション

ステップ応答を測定するには、立ち上がりエッジと安定化挙動を分解能で捉えるのに十分な時間領域のサンプルを取得しながら、急激な電圧変化を印加する必要があります。キーサイトのPXIe高精度ソース／測定ユニットは、このワークフローのために電圧源機能とデジタル測定機能を組み合わせています。最大1.25 MSa/sのサンプリングレートと、最大1.4 V/µsのスルーレートをサポートしています。 このアプリケーションノートでは、手動で設定した800 nsのアパーチャと100点のデジタイジングポイントを使用して、40 Vのステップ応答測定を行う方法を示しています。得られた電圧-時間波形からは、過渡応答を直接確認でき、オシロスコープによる測定結果と比較することも可能です。
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