高速デバイスのステップ応答を測定する方法

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PXIe 高精度 SMU
+ PXIe高精度SMU
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高速電圧ステップ応答のキャプチャ

ステップ応答測定では、制御された電圧トランジションを印加し、結果の電圧を経時的にサンプリングする必要があります。ソースは目標電圧まで急速にトランジションし、測定システムは立ち上がりエッジとそれに続く整定動作を解像するのに十分な時間ドメインのサンプルを取り込みます。測定タイミング、ソースレンジ、サンプリングアパーチャ、および取り込みポイントは、予期される過渡期間に合わせて設定されます。

取り込まれたサンプルは、トランジションおよび整定特性を評価できる電圧対時間波形を形成します。デジタイジングモードで動作するソース・メジャメント・ユニット（SMU）を使用すると、単一の機器で電圧ステップを生成し、その結果得られる過渡波形をキャプチャできます。測定された波形は、追加の時間ドメイン検証が必要な場合、オシロスコープのキャプチャと比較できます。

高速ステップ応答測定ソリューション

ステップ応答の測定では、立ち上がりエッジと整定動作を解像するのに十分な時間ドメインのサンプルを取り込みながら、急速な電圧トランジションを印加する必要があります。Keysight PXIe高精度ソース・メジャメント・ユニットは、このワークフローに向けて、電圧ソーシングとデジタイジング測定機能を組み合わせています。最大1.25 MSa/sのサンプリングレートと、1.4 V/µsの最大スルーレートをサポートします。このアプリケーションノートでは、手動の800 nsアパーチャと100個のデジタイジングポイントを使用した40 Vのステップ応答測定を紹介しています。得られた電圧対時間波形により、過渡応答を直接確認でき、オシロスコープの測定結果と比較することができます。
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