如何提升線接合篩選的良率

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最佳化打線篩選極限

模組封裝後打線篩選需要來自已知良品 (KGU) 的量測數據，以建立代表可接受封裝結構的測試極限。跨受測元件接腳收集電容量測值，並進行統計評估，以識別偏離特徵化母體的回應。量測離群值可能表示導線位移，或是與下垂、偏移或其他打線變形相關的變化。

適應性統計測試持續針對定義的極限評估生產量測結果。動態零件平均值測試 (DPAT) 使用可設定的統計極限來識別異常變異，而即時零件平均值測試 (RPAT) 則隨著測試進展調整這些極限。邊際重測 (MaRT) 在測試極限周圍套用單邊遲滯，並立即重新測試邊際量測而無需重新插拔元件，從而減少暫態或邊緣結果所造成的誤判。

自適應線接合篩選解決方案

打線篩選需要透過統計方式建立量測極限，以區分正常生產變異與異常結構變化。s8050 / Q3800A 電氣結構測試儀使用奈米無向量測試強效效能 (nVTEP) 電容量測與自動極限產生功能，從已知良品建立極限。動態零件平均值測試 (DPAT) 可識別統計離群值，而即時零件平均值測試 (RPAT) 則隨著生產測試的進行持續調整極限。邊際重測 (MaRT) 在邊際結果周圍增加保護帶，並可在無需重新插拔元件的情況下立即進行重新測試。這些功能共同支援適應性篩選，同時減少誤判並識別異常的打線變異。
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