如何將高速測試治具從系統中分離出來

模組化採樣示波器
+ 模組化取樣示波器

移除高速量測中的夾具效應

高速量測通常包含待測裝置與用於存取它的測試夾具、纜線或探棒的綜合響應,這使得隔離裝置真正的電子行為變得困難。處理 400G、800G 和 1.6T 系統中高速互連的工程師必須消除夾具引起的損耗、反射和失真,以便在預期的參考平面上準確評估裝置效能。

去嵌製程需要使用取樣示波器的 TDR/TDT 模組來特性化夾具路徑的 S 參數。此工作流程套用數學校正技術,從複合式「裝置加夾具」響應中移除夾具的貢獻,並將參考平面轉移至裝置介面。這需要準確的夾具建模、適當的連接埠定義以及經過驗證的去嵌技術。

測試夾具去嵌入解決方案

去嵌高速測試夾具需要特性化夾具路徑,並透過數學方式從量測響應中将其移除,以在預期的參考平面上恢復真實的裝置行為。Keysight 測試夾具去嵌解決方案包含配備 TDR/TDT 模組的模組化取樣示波器,以及支援自動夾具移除和基於 S 參數校正的訊號完整性軟體。此工作流程使工程師能夠套用夾具模型、重新指派連接埠,並將參考平面轉移至裝置介面,以便他們能夠比較原始結果與校正後的結果,並將裝置效能與夾具引起的效應隔離。

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