如何將高速測試治具從系統中分離出來

模組化採樣示波器
+ 模組化取樣示波器

從高速測量中消除夾具效應

高速測量通常會包含被測裝置與用於連接該裝置的測試夾具、纜線或探針所產生的綜合響應,這使得難以孤立該裝置的真實電氣行為。從事 400G、800G 及 1.6T 系統高速互連工作的工程師,必須消除由夾具引起的損耗、反射及失真,才能在預定的參考平面上準確評估裝置的性能。

去嵌入過程需要利用採樣示波器的 TDR/TDT 模組,對夾具路徑的 S 參數進行特性分析。此工作流程透過數學校正技術,從裝置與夾具的複合響應中去除夾具的影響,並將參考平面移至裝置介面。這需要精確的夾具建模、正確的端口定義,以及經過驗證的去嵌入技術。

測試夾具去嵌入解決方案

要對高速測試夾具進行去嵌入處理,必須先對夾具路徑進行特性分析,並透過數學方法將其從測量響應中移除,以還原裝置在預定參考平面上的真實行為。是德科技(Keysight)的測試夾具去嵌入解決方案包含一台配備 TDR/TDT 模組的模組化採樣示波器,以及支援自動夾具移除與基於 S 參數校正的訊號完整性軟體。 此工作流程使工程師能夠套用測試夾具模型、重新指派端口,並將參考平面移至裝置介面,從而比較原始與校正後的結果,並將裝置性能與夾具引起的效應區分開來。

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